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登録内容 (EID=168509)

EID=168509EID:168509, Map:[2007/科学計測], LastModified:2009年12月23日(水) 20:37:06, Operator:[大家 隆弘], Avail:TRUE, Censor:0, Owner:[[教務委員会委員]/[徳島大学.工学部.機械工学科]], Read:継承, Write:継承, Delete:継承.
種別 (必須): 工学部•昼間 (授業概要) [継承]
入学年度 (必須): 西暦 2008年 (平成 20年) [継承]
名称 (必須): (英) Scientific Measurements (日) 科学計測 (読) かがくけいそく
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形態 (不用): 1.講義 [継承]
コース (必須): 1.2008/[徳島大学.工学部.機械工学科]/[昼間コース] [継承]
担当教員 (必須): 1.松尾 繁樹
肩書 (任意):
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2.米倉 大介 ([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.機械科学系.生産工学分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.機械科学コース.生産工学講座])
肩書 (任意):
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単位 (必須): 2 [継承]
目的 (必須): (英)   (日) あらゆる測定は誤差を伴う.測定値の取り扱い時に必要な誤差論について講義し,確からしい値とその精度を求める方法の基礎を習得させる.また,機械システムの高性能化•知能化に最近広く用いられている光センシングやオプトメカトロニクスの基礎となる応用光学について講義し,これら光技術を用いた新しい機械システム技術に必要な基礎を修得させる.   [継承]
概要 (必須): (英)   (日) 測定精度の向上には測定装置や測定方法の改良が大切であるが,測定値の取り扱い方にも理論的裏付けが必要である.本講義では,まず誤差論の基礎を学び,真の値に近い確からしい値とその精度を求める方法の基礎を講述する.その後,精密計測に広く用いられている光学の基礎を理解させるために光の電磁理論,幾何光学,波動光学,光源,光検出器などを講述するとともに,様々な光科学計測について解説し,応用光学の基礎力の養成を図る.   [継承]
キーワード (推奨): 1.光学 (optics) [継承]
2.光計測 (optical measurement) [継承]
3.誤差 (error) [継承]
先行科目 (推奨): 1.ベクトル解析 ([2008/[徳島大学.工学部.機械工学科]/[昼間コース]])
必要度 (任意): 0.500000 [継承]
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2.基礎波動論 ([2008/[徳島大学.工学部.機械工学科]/[昼間コース]]/->授業概要[2007/基礎波動論])
必要度 (任意): 0.500000 [継承]
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3.確率統計学 ([2008/[徳島大学.工学部.機械工学科]/[昼間コース]]/->授業概要[2007/確率統計学])
必要度 (任意):
[継承]
関連科目 (推奨): 1.機械計測 ([2008/[徳島大学.工学部.機械工学科]/[昼間コース]]/->授業概要[2007/機械計測])
関連度 (任意):
[継承]
2.電子回路 ([2008/[徳島大学.工学部.機械工学科]/[昼間コース]]/->授業概要[2007/電子回路])
関連度 (任意):
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要件 (任意): (英)   (日) 三角関数,複素関数,ベクトル解析,確率統計,基礎波動論などに関する基礎知識を持っていることが望ましい.   [継承]
注意 (任意):
目標 (必須): 1.(英)   (日) 測定時の誤差の取り扱い方法の基礎を理解する.光の性質および光を使った計測の基礎を理解する  
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計画 (必須): 1.(英) measurement and error  (日) 測定と誤差  
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2.(英) distribution function  (日) 分布関数  
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3.(英) error and mean value  (日) 誤差と平均値  
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4.(英) regression analysis  (日) 回帰分析  
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5.(英) regression analysis and midterm examination  (日) 回帰分析および中間試験  
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6.(英) electromagnetic properties of light  (日) 光の電磁理論  
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7.(英) electromagnetic wave  (日) 電磁波  
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8.(英) polarization  (日) 偏光  
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9.(英) interference and diffraction  (日) 干渉と回折  
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10.(英) refraction and reflection  (日) 屈折と反射  
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11.(英) geometric optics, lens  (日) 幾何光学,レンズ  
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12.(英) light source and light detector  (日) 光源と光検出器  
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13.(英) measurement of length  (日) 距離計測  
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14.(英) mesurement of shape  (日) 形状計測  
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15.(英) optical spectroscopy  (日) 分光計測  
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16.(英) end-of-term examination  (日) 期末テスト  
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評価 (必須): (英)   (日) 平常点(受講姿勢,小レポート),中間試験,期末定期試験を総合して評価する.平常点と中間試験と期末試験の比率は1:3:6とする.   [継承]
JABEE合格 (任意): (英)   (日) 【成績評価】と同一である.   [継承]
JABEE関連 (任意): (英)   (日) (A)70%,(D)30%に対応する.   [継承]
対象学生 (任意): 開講コースと同学科の夜間主コース学生も履修可能 [継承]
教科書 (必須): 1.(英)   (日) 谷田貝豊著「応用光学 光計測入門」丸善   [継承]
2.(英)   (日) 吉澤康和著「新しい誤差論-実験データ解析法-」共立出版   [継承]
参考資料 (推奨): 1.(英)   (日) 山口一郎著「応用光学」オーム社   [継承]
URL (任意):
連絡先 (推奨): 1.米倉 大介 ([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.機械科学系.生産工学分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.機械科学コース.生産工学講座])
オフィスアワー (任意):
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2.松尾 繁樹
オフィスアワー (任意):
[継承]
科目コード (推奨):
備考 (任意): 1.(英)   (日) ほぼ毎回の授業で小レポートを課す.平常点には,受講姿勢に加え小レポートの提出状況と内容も含まれる.   [継承]

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