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『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
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登録内容 (EID=390188)
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○カテゴリ (必須) : □ 研究
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○団体 (必須) : □ 社団法人 エレクトロニクス実装学会
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○名称 (必須) : □ (英) (日) 2022アカデミックプラザ賞 (読)
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○組織 (推奨) : 1. 徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.知能電子回路分野 (2017年4月1日〜)
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2. 徳島大学.創成科学研究科.理工学専攻.電気電子システムコース(創成科学研究科).知能電子回路講座(創成科学研究科) (2020年4月1日〜)
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○受賞者 (必須) : 1. (英) Katayama Shota (日) 片山 翔太 (読) かたやま しょうた
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2. (英) Arimoto KOHJI (日) 有元 康滋 (読) ありもと こうじ
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3. 四柳 浩之 ([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.知能電子回路分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.電気電子システムコース.知能電子回路講座])
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4. 橋爪 正樹
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○テーマ (必須) : □ (英) (日) 遅延故障検査容易化バウンダリスキャンにおける観測対象判別回路による検査時間短縮
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○年月日 (必須) : □ 西暦 2022年 6月 15日 (令和 4年 6月 15日)
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○指導教員 (推奨) : 1. 四柳 浩之 ([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.知能電子回路分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.電気電子システムコース.知能電子回路講座])
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○備考 (任意) :
標準的な表示
和文冊子 ●
片山 翔太 , 有元 康滋 , 四柳 浩之 , 橋爪 正樹 : 遅延故障検査容易化バウンダリスキャンにおける観測対象判別回路による検査時間短縮, 2022アカデミックプラザ賞, 社団法人 エレクトロニクス実装学会 , 2022年6月.
欧文冊子 ●
Shota Katayama , KOHJI Arimoto , Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume : 遅延故障検査容易化バウンダリスキャンにおける観測対象判別回路による検査時間短縮 , 2022アカデミックプラザ賞 , Japan Institute of Electronics Packaging , June 2022.
関連情報
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