| ○種別 (必須): | □ | 学術論文 (審査論文)
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| ○言語 (必須): | □ | 英語
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| ○招待 (推奨): |
| ○審査 (推奨): | □ | Peer Review
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| ○カテゴリ (推奨): | □ | 研究
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| ○共著種別 (推奨): | □ | 徳島大学以外での国際共著 (徳島大学以外での複数の国の研究機関による共同研究)
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| ○学究種別 (推奨): |
| ○組織 (推奨): |
| ○著者 (必須): | 1. | (英) Widiant (日) (読)
| ○役割 (任意): |
| ○貢献度 (任意): |
| ○学籍番号 (推奨): |
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| 2. | 橋爪 正樹
| ○役割 (任意): |
| ○貢献度 (任意): |
| ○学籍番号 (推奨): |
| [継承] |
| 3. | (英) Suenaga Shohei (日) 末永 翔平 (読) すえなが しょうへい
| ○役割 (任意): |
| ○貢献度 (任意): |
| ○学籍番号 (推奨): | □ | ****
| [ユーザ] |
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| 4. | 四柳 浩之 ([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.知能電子回路分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.電気電子システムコース.知能電子回路講座])
| ○役割 (任意): |
| ○貢献度 (任意): |
| ○学籍番号 (推奨): |
| [継承] |
| 5. | (英) Ono Akira (日) (読)
| ○役割 (任意): |
| ○貢献度 (任意): |
| ○学籍番号 (推奨): |
| [継承] |
| 6. | (英) Lu Shyue-Kung (日) (読)
| ○役割 (任意): |
| ○貢献度 (任意): |
| ○学籍番号 (推奨): |
| [継承] |
| 7. | (英) Roth Zvi (日) (読)
| ○役割 (任意): |
| ○貢献度 (任意): |
| ○学籍番号 (推奨): |
| [継承] |
| ○題名 (必須): | □ | (英) A Built-in Test Circuit for Electrical Interconnect Testing of Open Defects in Assembled PCBs (日)
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| ○副題 (任意): |
| ○要約 (任意): | □ | (英) <p>In this paper, a built-in test circuit for an electrical interconnect test method is proposed to detect an open defect occurring at an interconnect between an IC and a printed circuit board. The test method is based on measuring the supply current of an inverter gate in the test circuit. A time-varying signal is provided to an interconnect as a test signal by the built-in test circuit. In this paper, the test circuit is evaluated by SPICE simulation and by experiments with a prototyping IC. The experimental results reveal that a hard open defect is detectable by the test method in addition to a resistive open defect and a capacitive open one at a test speed of 400 kHz.</p> (日)
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| ○キーワード (推奨): | 1. | (英) electrical test (日) (読)
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| 2. | (英) built-in test circuit (日) (読)
| [継承] |
| 3. | (英) open defect (日) (読)
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| 4. | (英) interconnect test (日) (読)
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| 5. | (英) design for testability (日) (読)
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| ○発行所 (推奨): | □ | 電子情報通信学会
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| ○誌名 (必須): | □ | 電子情報通信学会英文論文誌(D) ([電子情報通信学会])
(pISSN: 0916-8532, eISSN: 1745-1361)
| ○ISSN (任意): | □ | 0916-8532
ISSN: 0916-8532
(pISSN: 0916-8532, eISSN: 1745-1361) Title: IEICE transactions on information and systemsTitle(ISO): IEICE Trans Inf SystSupplier: 一般社団法人電子情報通信学会Publisher: Oxford University Press (NLM Catalog)
(CiNii NCID)
(J-STAGE)
(Scopus)
(CrossRef)
(Scopus information is found. [need login]) | [継承] |
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| ○巻 (必須): | □ | E99-D
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| ○号 (必須): | □ | 11
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| ○頁 (必須): | □ | 2723 2733
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| ○都市 (任意): |
| ○年月日 (必須): | □ | 西暦 2016年 11月 初日 (平成 28年 11月 初日)
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| ○URL (任意): | □ | http://ci.nii.ac.jp/naid/130005268125/
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| ○DOI (任意): | □ | 10.1587/transinf.2015EDP7273 (→Scopusで検索)
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| ○PMID (任意): |
| ○CRID (任意): | □ | 1390282679355793792
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| ○NAID : | □ | 130005268125
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| ○Scopus (任意): |
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