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登録内容 (EID=318534)

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○種別 (必須): □学術論文 (審査論文) [継承]
○言語 (必須): □英語 [継承]
○招待 (推奨):
○審査 (推奨): □Peer Review [継承]
○カテゴリ (推奨): □研究 [継承]
○共著種別 (推奨): □国際共著 (徳島大学内研究者と国外研究機関所属研究者との共同研究) [継承]
○学究種別 (推奨):
○組織 (推奨):
○著者 (必須): 1. (英) Lu Shyue-Kung (日) (読)
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
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2. (英) Tsai Cheng-Ju (日) (読)
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
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3.橋爪 正樹
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
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○題名 (必須): □(英) Enhanced Built-In Self-Repair Techniques for Improving Fabrication Yield and Reliability of Embedded Memories  (日)    [継承]
○副題 (任意):
○要約 (任意):
○キーワード (推奨):
○発行所 (推奨): □IEEE [継承]
○誌名 (必須): □IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems (IEEE Circuits and Systems Society/IEEE Computer Society/IEEE Solid-State Circuits Society)
(pISSN: 1063-8210, eISSN: 1557-9999)

○ISSN (任意): □1063-8210
ISSN: 1063-8210 (pISSN: 1063-8210, eISSN: 1557-9999)
Title: IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems
Title(ISO): IEEE Trans Very Large Scale Integr VLSI Syst
Publisher: IEEE
 (NLM Catalog)   (IEEE)   (Scopus)   (CrossRef)  (Scopus information is found. [need login])
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○巻 (必須): □24 [継承]
○号 (必須): □8 [継承]
○頁 (必須): □2726 2734 [継承]
○都市 (任意):
○年月日 (必須): □西暦 2016年 7月 初日 (平成 28年 7月 初日) [継承]
○URL (任意):
○DOI (任意): □10.1109/TVLSI.2016.2523499    (→Scopusで検索) [継承]
○PMID (任意):
○CRID (任意):
○Scopus (任意): 1.2-s2.0-84959124411 [継承]
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○指導教員 (推奨):
○備考 (任意):

標準的な表示

和文冊子 ● Shyue-Kung Lu, Cheng-Ju Tsai and Masaki Hashizume : Enhanced Built-In Self-Repair Techniques for Improving Fabrication Yield and Reliability of Embedded Memories, IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, 24, 8, 2726-2734, 2016.
欧文冊子 ● Shyue-Kung Lu, Cheng-Ju Tsai and Masaki Hashizume : Enhanced Built-In Self-Repair Techniques for Improving Fabrication Yield and Reliability of Embedded Memories, IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, 24, 8, 2726-2734, 2016.

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