『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
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登録内容 (EID=318251)

EID=318251EID:318251, Map:0, LastModified:2016年8月20日(土) 00:44:02, Operator:[橋爪 正樹], Avail:TRUE, Censor:0, Owner:[橋爪 正樹], Read:継承, Write:継承, Delete:継承.
組織 (必須): 1.徳島大学.工学研究科.電気電子工学専攻.電気電子システム講座 (〜2011年3月31日)
研究者 (必須): 1.橋爪 正樹 ([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.知能電子回路分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.電気電子システムコース.知能電子回路講座]) [継承]
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2.徳島文理大学
研究者 (必須): 1. (英) (日) 多田 哲生 (読) [継承]
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3.秋田大学
研究者 (必須): 1. (英) (日) 横山 洋之 (読) [継承]
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種別 (必須): 他大学·他学部との共同研究 [継承]
テーマ (必須): (英)   (日) 3次元積層メモリICの電気検査法に関する研究   [継承]
期間 (必須): 西暦 2014年 4月 1日 (平成 26年 4月 1日) 〜西暦 2017年 3月 31日 (平成 29年 3月 31日) [継承]
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備考 (任意):

標準的な表示

和文冊子 ● 電気電子システム講座 (橋爪 正樹), 徳島文理大学 (多田 哲生), 秋田大学 (横山 洋之), 3次元積層メモリICの電気検査法に関する研究, 2014年4月〜2017年3月.
欧文冊子 ● Communications and Controls (Masaki Hashizume), Bunri University (多田 哲生), Akita University (横山 洋之), 3次元積層メモリICの電気検査法に関する研究, April 2014-March 2017.

関連情報

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