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登録内容 (EID=313857)

EID=313857EID:313857, Map:0, LastModified:2020年3月6日(金) 12:01:09, Operator:[三木 ちひろ], Avail:TRUE, Censor:承認済, Owner:[[部門長]/[徳島大学.大学院ソシオテクノサイエンス研究部.エネルギーシステム部門]], Read:継承, Write:継承, Delete:継承.
○種別 (必須): □学術論文 (審査論文) [継承]
○言語 (必須): □英語 [継承]
○招待 (推奨):
○審査 (推奨):
○カテゴリ (推奨):
○共著種別 (推奨): □国内共著 (徳島大学内研究者と国内(学外)研究者との共同研究 (国外研究者を含まない)) [継承]
○学究種別 (推奨):
○組織 (推奨):
○著者 (必須): 1. (英) Iida Susumu (日) (読)
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
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2.大宅 薫
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
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3. (英) Hirano Ryoichi (日) (読)
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
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4. (英) Watanabe Hidehiro (日) (読)
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
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○題名 (必須): □(英) An analysis of the impact of native oxide, surface contamination and material density on total electron yield in the absence of surface charging effects  (日)    [継承]
○副題 (任意):
○要約 (任意):
○キーワード (推奨):
○発行所 (推奨):
○誌名 (必須): □Applied Surface Science ([Elsevier])
(pISSN: 0169-4332)

○ISSN (任意): □0169-4332
ISSN: 0169-4332 (pISSN: 0169-4332)
Title: Applied surface science
Title(ISO): Appl Surf Sci
Publisher: Elsevier B.V.
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○巻 (必須): □384 [継承]
○号 (必須): □ [継承]
○頁 (必須): □244 250 [継承]
○都市 (任意):
○年月日 (必須): □西暦 2016年 4月 26日 (平成 28年 4月 26日) [継承]
○URL (任意):
○DOI (任意): □10.1016/j.apsusc.2016.04.143    (→Scopusで検索) [継承]
○PMID (任意):
○CRID (任意):
○WOS : □000378560900030 [継承]
○Scopus (任意): 1.2-s2.0-84969951945 [継承]
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和文冊子 ● Susumu Iida, Kaoru Ohya, Ryoichi Hirano and Hidehiro Watanabe : An analysis of the impact of native oxide, surface contamination and material density on total electron yield in the absence of surface charging effects, Applied Surface Science, 384, 244-250, 2016.
欧文冊子 ● Susumu Iida, Kaoru Ohya, Ryoichi Hirano and Hidehiro Watanabe : An analysis of the impact of native oxide, surface contamination and material density on total electron yield in the absence of surface charging effects, Applied Surface Science, 384, 244-250, 2016.

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