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登録内容 (EID=310219)

EID=310219EID:310219, Map:0, LastModified:2018年4月21日(土) 13:33:46, Operator:[後藤 信夫], Avail:TRUE, Censor:承認済, Owner:[永瀬 雅夫], Read:継承, Write:継承, Delete:継承.
○種別 (必須): □学術論文 (審査論文) [継承]
○言語 (必須): □英語 [継承]
○招待 (推奨):
○審査 (推奨): □Peer Review [継承]
○カテゴリ (推奨): □研究 [継承]
○共著種別 (推奨):
○学究種別 (推奨): □博士前期課程学生による研究報告 [継承]
○組織 (推奨):
○著者 (必須): 1. (英) Matsumura Hisatomo (日) 松村 尚知 (読) まつむら ひさとも
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨): □**** [ユーザ]
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2.柳谷 伸一郎 ([徳島大学.ポストLEDフォトニクス研究所]/[徳島大学.理工学部.理工学科.光システムコース.光機能材料講座])
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
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3.永瀬 雅夫
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
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4.岸川 博紀 ([徳島大学.ポストLEDフォトニクス研究所]/[徳島大学.理工学部.理工学科.光システムコース.光情報システム講座])
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
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5.後藤 信夫
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
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○題名 (必須): □(英) Microscopic Raman Study of Graphene on 4H-SiC Two-Dimensionally Enhanced by Surface Roughness and Gold Nanoparticles  (日)    [継承]
○副題 (任意):
○要約 (任意):
○キーワード (推奨):
○発行所 (推奨): □応用物理学会 [継承]
○誌名 (必須): □Japanese Journal of Applied Physics ([応用物理学会])
(pISSN: 0021-4922, eISSN: 1347-4065)

○ISSN (任意): □1347-4065
ISSN: 0021-4922 (pISSN: 0021-4922, eISSN: 1347-4065)
Title: Japanese journal of applied physics (2008)
Title(ISO): Jpn J Appl Phys (2008)
Supplier: 社団法人応用物理学会
Publisher: Institute of Physics
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○巻 (必須): □55 [継承]
○号 (必須): □6S1 [継承]
○頁 (必須): □06GL05 06GL05 [継承]
○都市 (任意):
○年月日 (必須): □西暦 2016年 5月 26日 (平成 28年 5月 26日) [継承]
○URL (任意):
○DOI (任意): □10.7567/JJAP.55.06GL05    (→Scopusで検索) [継承]
○PMID (任意):
○CRID (任意):
○Scopus (任意):
○機関リポジトリ : □111013 [継承]
○researchmap (任意):
○評価値 (任意):
○被引用数 (任意):
○指導教員 (推奨):
○備考 (任意):

標準的な表示

和文冊子 ● Hisatomo Matsumura, Shin-ichiro Yanagiya, Masao Nagase, Hiroki Kishikawa and Nobuo Goto : Microscopic Raman Study of Graphene on 4H-SiC Two-Dimensionally Enhanced by Surface Roughness and Gold Nanoparticles, Japanese Journal of Applied Physics, 55, 6S1, 06GL05, 2016.
欧文冊子 ● Hisatomo Matsumura, Shin-ichiro Yanagiya, Masao Nagase, Hiroki Kishikawa and Nobuo Goto : Microscopic Raman Study of Graphene on 4H-SiC Two-Dimensionally Enhanced by Surface Roughness and Gold Nanoparticles, Japanese Journal of Applied Physics, 55, 6S1, 06GL05, 2016.

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