『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
登録内容 (EID=221384)
EID=221384 | EID:221384,
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○種別 (必須): | □ | 国際会議
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○言語 (必須): | □ | 英語
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○招待 (推奨): | □ | 招待
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○審査 (推奨): |
○カテゴリ (推奨): | □ | 研究
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○共著種別 (推奨): |
○学究種別 (推奨): |
○組織 (推奨): | 1. | IEEE
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○著者 (必須): | 1. | 安井 武史 ([徳島大学.ポストLEDフォトニクス研究所]/[徳島大学.理工学部.理工学科.機械科学コース.生産工学講座])
○役割 (任意): |
○貢献度 (任意): |
○学籍番号 (推奨): |
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○題名 (必須): | □ | (英) (Invited) Terahertz frequency metrology based on frequency comb techniques (日)
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○副題 (任意): |
○要約 (任意): |
○キーワード (推奨): |
○発行所 (推奨): | □ | IEEE
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○誌名 (必須): | □ | (英) Winter Topicals 2010 (IEEE Photonic Society) (日) (読)
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○巻 (必須): | □ |
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○号 (必須): | □ |
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○頁 (必須): | □ |
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○都市 (必須): | □ | (英) Majorca, Spain (日) (読)
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○年月日 (必須): | □ | 西暦 2010年 1月 11日 (平成 22年 1月 11日)
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○URL (任意): |
○DOI (任意): |
○PMID (任意): |
○NAID (任意): |
○WOS (任意): |
○Scopus (任意): |
○評価値 (任意): |
○被引用数 (任意): |
○指導教員 (推奨): |
○備考 (任意): |
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標準的な表示
和文冊子 ● |
Takeshi Yasui : (Invited) Terahertz frequency metrology based on frequency comb techniques, Winter Topicals 2010 (IEEE Photonic Society), Majorca, Spain, Jan. 2010. |
欧文冊子 ● |
Takeshi Yasui : (Invited) Terahertz frequency metrology based on frequency comb techniques, Winter Topicals 2010 (IEEE Photonic Society), Majorca, Spain, Jan. 2010. |
関連情報
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