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登録内容 (EID=214188)

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○種別 (必須): □国際会議 [継承]
○言語 (必須): □英語 [継承]
○招待 (推奨):
○審査 (推奨): □Peer Review [継承]
○カテゴリ (推奨):
○共著種別 (推奨):
○学究種別 (推奨):
○組織 (推奨):
○著者 (必須): 1.水谷 康弘
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
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2.岩田 哲郎
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
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○題名 (必須): □(英) Thin film thickness measurement by surface prasmon resonance using modified Otto's configuration combined with ellipsometry  (日)    [継承]
○副題 (任意):
○要約 (任意):
○キーワード (推奨):
○発行所 (推奨):
○誌名 (必須): □ (英) 10th international symposium on Measurement and Quality Control 2010 (日) (読)
○ISSN (任意):
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○巻 (必須): □ [継承]
○号 (必須): □ [継承]
○頁 (必須): □E5-064-1 E5-064-4 [継承]
○都市 (必須): □大阪 (Osaka/[日本国]) [継承]
○年月日 (必須): □西暦 2010年 9月 8日 (平成 22年 9月 8日) [継承]
○URL (任意):
○DOI (任意):
○PMID (任意):
○CRID (任意):
○WOS (任意):
○Scopus (任意): □2-s2.0-84871545508 [継承]
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○被引用数 (任意):
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標準的な表示

和文冊子 ● Yasuhiro Mizutani and Tetsuo Iwata : Thin film thickness measurement by surface prasmon resonance using modified Otto's configuration combined with ellipsometry, 10th international symposium on Measurement and Quality Control 2010, E5-064-1-E5-064-4, Osaka, Sep. 2010.
欧文冊子 ● Yasuhiro Mizutani and Tetsuo Iwata : Thin film thickness measurement by surface prasmon resonance using modified Otto's configuration combined with ellipsometry, 10th international symposium on Measurement and Quality Control 2010, E5-064-1-E5-064-4, Osaka, Sep. 2010.

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