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登録内容 (EID=208832)

EID=208832EID:208832, Map:0, LastModified:2017年11月27日(月) 18:35:56, Operator:[大家 隆弘], Avail:TRUE, Censor:0, Owner:[[学科長]/[徳島大学.工学部.機械工学科]], Read:継承, Write:継承, Delete:継承.
種別 (必須): 学術論文 (審査論文) [継承]
言語 (必須): 英語 [継承]
招待 (推奨):
審査 (推奨): Peer Review [継承]
カテゴリ (推奨): 研究 [継承]
共著種別 (推奨):
学究種別 (推奨):
組織 (推奨): 1.American Institute of Physics [継承]
著者 (必須): 1.王 胖胖
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
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2. (英) Gao Lumei (日) (読)
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
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3. (英) Qiu Zhiyong (日) (読)
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
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4. (英) Song Xiaoping (日) (読)
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
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5. (英) Wang Liqun (日) (読)
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
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6. (英) Yang Sen (日) (読)
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
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7.村上 理一
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
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題名 (必須): (英) A multistep ac electrodeposition method to prepare Co nanowires with high coercivity  (日)    [継承]
副題 (任意):
要約 (任意):
キーワード (推奨): 1. (英) AC Electrodeposition method (日) (読) [継承]
2. (英) AAO template (日) (読) [継承]
3. (英) Perpendicular Magnetic Recording (日) (読) [継承]
発行所 (推奨): American Institute of Physics [継承]
誌名 (必須): Journal of Applied Physics ([American Institute of Physics])
(pISSN: 0021-8979, eISSN: 1089-7550)

ISSN (任意): 0021-8979
ISSN: 0021-8979 (pISSN: 0021-8979, eISSN: 1089-7550)
Title: Journal of applied physics
Title(ISO): J Appl Phys
Publisher: American Institute of Physics
 (NLM Catalog  (Scopus  (CrossRef (Scopus information is found. [need login])
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(必須): 104 [継承]
(必須): 6 [継承]
(必須): 064304 064308 [継承]
都市 (任意):
年月日 (必須): 西暦 2008年 9月 19日 (平成 20年 9月 19日) [継承]
URL (任意):
DOI (任意): 10.1063/1.2975843    (→Scopusで検索) [継承]
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NAID (任意):
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Scopus (任意):
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被引用数 (任意):
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標準的な表示

和文冊子 ● Pangpang Wang, Lumei Gao, Zhiyong Qiu, Xiaoping Song, Liqun Wang, Sen Yang and Ri-ichi Murakami : A multistep ac electrodeposition method to prepare Co nanowires with high coercivity, Journal of Applied Physics, Vol.104, No.6, 064304-064308, 2008.
欧文冊子 ● Pangpang Wang, Lumei Gao, Zhiyong Qiu, Xiaoping Song, Liqun Wang, Sen Yang and Ri-ichi Murakami : A multistep ac electrodeposition method to prepare Co nanowires with high coercivity, Journal of Applied Physics, Vol.104, No.6, 064304-064308, 2008.

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