『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
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登録内容 (EID=207318)

EID=207318EID:207318, Map:0, LastModified:2024年5月9日(木) 11:49:52, Operator:[三木 ちひろ], Avail:TRUE, Censor:0, Owner:[永瀬 雅夫], Read:継承, Write:継承, Delete:継承.
(必須): (英) Nagase (日) 永瀬 (読) ながせ [継承]
(必須): (英) Masao (日) 雅夫 (読) まさお [継承]
ミドルネーム (任意):
生年月日 (推奨): **** [学内]
性別 (推奨): 男性 [継承]
学位 (推奨): 1.(期間: 1997年3月 末日〜)  博士 [継承]
学位名称 (推奨): 1. (英) Dr. Eng. (日) 博士(工学) (読) はかせ こうがく
授与組織 (推奨): 早稲田大学 [継承]
授与年月日 (推奨): 西暦 1997年 3月 初日 (平成 9年 3月 初日) [継承]
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出身大学 (推奨): 早稲田大学
卒業年月日 (推奨): 西暦 1982年 3月 末日 (昭和 57年 3月 末日) [継承]
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出身大学2 (推奨): (英) Waseda Unv. (日) 早稲田大学大学院・理工学研究科・物理学及応用物理学専攻 (読)
修士課程修了年月日 (推奨): 西暦 1984年 3月 末日 (昭和 59年 3月 末日) [継承]
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出身大学3 (推奨):
肩書 (必須): 1.(期間: 2010年4月 1日〜)  教授 ([教職員.教員.本務教員]/[常勤]) [継承]
所属 (必須): 1.(期間: 2024年4月 1日〜)  徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.物性デバイス分野 (2017年4月1日〜) [継承]
2.(期間: 2016年4月 1日〜)  徳島大学.理工学部.理工学科.電気電子システムコース.物性デバイス講座 (2016年4月1日〜) [継承]
3.(期間: 2019年4月 1日〜2024年3月 31日)  徳島大学.ポストLEDフォトニクス研究所 (2019年3月1日〜) [継承]
4.(期間: 2017年4月 1日〜2019年3月 31日)  徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.物性デバイス分野 (2017年4月1日〜) [継承]
5.(期間: 2016年4月 1日〜2017年3月 31日)  徳島大学.大学院理工学研究部.理工学部門.電気電子系.物性デバイス分野 (2016年4月1日〜2017年3月31日) [継承]
6.(期間: 2010年4月 1日〜2016年3月 31日)  徳島大学.大学院ソシオテクノサイエンス研究部.先進物質材料部門.知的材料システム (2006年4月1日〜2016年3月31日) [継承]
7.(期間: 2010年4月 1日〜2016年3月 31日)  徳島大学.工学部.電気電子工学科.物性デバイス講座 (〜2023年3月31日) [継承]
8.(期間: 2010年4月 1日〜2016年3月 31日)  徳島大学.先端技術科学教育部.システム創生工学専攻.電気電子創生工学コース.物性デバイス講座 (2006年4月1日〜) [継承]
電子メール (必須): ņāġāśė (@ėė ₍.₎ tōkūśhīmā-ū ₍.₎ āċ ₍.₎ jp [継承]
電話 (推奨): **** [学内]
電話2 (推奨): **** [学内]
電話3 (任意):
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国籍 (推奨):
本籍 (推奨):
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オフィスアワー (推奨):
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科研番号 (推奨):
SPAS-ID (推奨):
職員番号 (推奨):
学務教員ID (推奨):
パスワード (任意): **** [ユーザ]
証明書 (任意): RevokedEDB/PKI 1st Generation Certificate
Expire @ Fri Apr 17 08:58:54 2020
countryName (C) = "JP"
stateOrProvinceName (ST) = "Tokushima"
localityName (L) = "Tokushima City"
organizationName (O) = "The University of Tokushima"
organizationalUnitName (OU) = "EDB"
commonName (CN) = "S207318"
emailAddress = "ņāġāśė (@ėė ₍.₎ tōkūśhīmā-ū ₍.₎ āċ ₍.₎ jp"
[継承]
URL (任意): http://graphene.ee.tokushima-u.ac.jp/ [継承]
顔写真 (推奨): 永瀬 雅夫 ([顔写真]) [継承]
WOS (任意):
Scopus (任意): 1.7102421492 [継承]
2.36191164600 [継承]
Researchmap (推奨):
ORCID (推奨): 1.0000-0002-2550-0146 [継承]
備考 (任意):

標準的な表示

和文冊子 ● [氏名] 永瀬 雅夫, Masao Nagase, [Email] nagase@ee.tokushima-u.ac.jp, [職名・学位] 教授・博士(工学), [専門分野] 半導体デバイス物性, [所属学会] 応用物理学会・International Microprocesses and Nanotechnology Conference(MNC2011)・International Microprocesses and Nanotechnology Conference(MNC2010)・応用物理学会応用物理学会・International Microprocesses and Nanotechnology Conference(MNC2009)・International Microprocesses and Nanotechnology Conference(MNC2008)・International Microprocesses and Nanotechnology Conference(MNC2007)・International Microprocesses and Nanotechnology Conference(MNC2006)・応用物理学会・International Microprocesses and Nanotechnology Conference(MNC2012)・International Microprocesses and Nanotechnology Conference(MNC2013)・集積化MEMS技術研究会・応用物理学会・International Microprocesses and Nanotechnology Conference(MNC2014)・The 6th IEEE International Nanoelectronics Conference 2014・International Microprocesses and Nanotechnology Conference(MNC2015)・International Microprocesses and Nanotechnology Conference(MNC2016)・The 16th IEEE International Conference on Nanotechnology(IEEE NANO2016)・応用物理学会・International Microprocesses and Nanotechnology Conference(MNC2017)・International Microprocesses and Nanotechnology Conference(MNC2018)・International Microprocesses and Nanotechnology Conference(MNC2019)・International Microprocesses and Nanotechnology Conference(MNC2020)・応用物理学会・International Microprocesses and Nanotechnology Conference(MNC2021)・応用物理学会・International Microprocesses and Nanotechnology Conference(MNC2022)・International Microprocesses and Nanotechnology Conference(MNC2023)・応用物理学会, [社会活動] , [研究テーマ] 半導体デバイスの開発とナノ物性評価技術の研究, [キーワード] 半導体デバイス, ナノ構造, シリコン, グラフェン, ナノ計測技術, [共同研究可能テーマ] (@.collaborate)
欧文冊子 ● [Name] Masao Nagase, [Email] nagase@ee.tokushima-u.ac.jp, [Title, Degree] Professor・Dr. Eng., [Field of Study] Semiconductor Device Physics, [Academic Society] The Japan Society of Applied Physics・International Microprocesses and Nanotechnology Conference(MNC2011)・International Microprocesses and Nanotechnology Conference(MNC2010)・The Japan Society of Applied PhysicsThe Japan Society of Applied Physics・International Microprocesses and Nanotechnology Conference(MNC2009)・International Microprocesses and Nanotechnology Conference(MNC2008)・International Microprocesses and Nanotechnology Conference(MNC2007)・International Microprocesses and Nanotechnology Conference(MNC2006)・The Japan Society of Applied Physics・International Microprocesses and Nanotechnology Conference(MNC2012)・International Microprocesses and Nanotechnology Conference(MNC2013)・集積化MEMS技術研究会The Japan Society of Applied Physics・International Microprocesses and Nanotechnology Conference(MNC2014)・The 6th IEEE International Nanoelectronics Conference 2014・International Microprocesses and Nanotechnology Conference(MNC2015)・International Microprocesses and Nanotechnology Conference(MNC2016)・The 16th IEEE International Conference on Nanotechnology(IEEE NANO2016)・The Japan Society of Applied Physics・International Microprocesses and Nanotechnology Conference(MNC2017)・International Microprocesses and Nanotechnology Conference(MNC2018)・International Microprocesses and Nanotechnology Conference(MNC2019)・International Microprocesses and Nanotechnology Conference(MNC2020)・The Japan Society of Applied Physics・International Microprocesses and Nanotechnology Conference(MNC2021)・The Japan Society of Applied Physics・International Microprocesses and Nanotechnology Conference(MNC2022)・International Microprocesses and Nanotechnology Conference(MNC2023)・The Japan Society of Applied Physics, [Social Activity] , [Theme of Study] 半導体デバイスの開発とナノ物性評価技術の研究, [Keyword] semiconductor device, nanostructure, silicon, graphene, nanometrology, [Collaboratible] (@.collaborate)

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