『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
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登録内容 (EID=10725)

EID=10725EID:10725, Map:0, LastModified:2017年12月23日(土) 17:38:58, Operator:[[ADMIN]], Avail:TRUE, Censor:0, Owner:[橋爪 正樹], Read:継承, Write:継承, Delete:継承.
(必須): (英) Hashizume (日) 橋爪 (読) はしづめ [継承]
(必須): (英) Masaki (日) 正樹 (読) まさき [継承]
ミドルネーム (任意):
生年月日 (推奨): **** [学内]
性別 (推奨): 男性 [継承]
学位 (推奨): 1.博士 [継承]
学位名称 (推奨): 1. (英) (日) 博士(工学) (読)
授与組織 (推奨): 京都大学 [継承]
授与年月日 (推奨): 西暦 1993年 1月 23日 (平成 5年 1月 23日) [継承]
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出身大学 (推奨): (英) (日) 徳島大学工学部電気工学科 (読) とくしまだいがくこうがくぶでんきこうがくか
卒業年月日 (推奨): 西暦 1979年 3月 24日 (昭和 54年 3月 24日) [継承]
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出身大学2 (推奨): 工学研究科 (〜2014年3月31日)
修士課程修了年月日 (推奨): 西暦 1979年 3月 24日 (昭和 54年 3月 24日) [継承]
[継承]
出身大学3 (推奨):
肩書 (必須): 1.(期間: 2005年3月 1日〜)  教授 ([教職員.教員.本務教員]/[常勤]) [継承]
所属 (必須): 1.(期間: 2017年4月 1日〜)  徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.知能電子回路分野 (2017年4月1日〜) [継承]
2.(期間: 2016年4月 1日〜)  徳島大学.理工学部.理工学科.電気電子システムコース.知能電子回路講座 (2016年4月1日〜) [継承]
3.(期間: 2016年4月 1日〜2017年3月 31日)  知能電子回路分野 (2016年4月1日〜2017年3月31日) [継承]
4.(期間: 2005年3月 1日〜2016年3月 31日)  徳島大学.工学部.電気電子工学科.電気電子システム講座 [継承]
5.(期間: 〜2016年3月 31日)  計算機システム工学 (2006年4月1日〜2016年3月31日) [継承]
6.(期間: 〜2016年3月 31日)  徳島大学.先端技術科学教育部.システム創生工学専攻.電気電子創生工学コース.電気電子システム講座 (2006年4月1日〜) [継承]
7.(期間: 〜2005年2月 28日)  徳島大学.工学部.電気電子工学科.知能電子回路講座 [継承]
電子メール (必須): tūmė (@ėė ₍.₎ tōkūśhīmā-ū ₍.₎ āċ ₍.₎ jp [継承]
電話 (推奨): **** [学内]
電話2 (推奨): **** [学内]
電話3 (任意): **** [職員]
FAX (任意): **** [学内]
国籍 (推奨): **** [職員]
本籍 (推奨):
郵便番号 (任意): **** [職員]
住所 (任意): **** [職員]
部屋 (推奨): (英) (日) E棟3階南 D-2 (読) [継承]
オフィスアワー (推奨):
統合認証ID (推奨):
科研番号 (推奨):
SPAS-ID (推奨):
職員番号 (推奨):
学務教員ID (推奨):
パスワード (任意): **** [ユーザ]
証明書 (任意): CertificateEDB/PKI 2nd Generation Certificate
countryName (C) = "JP"
stateOrProvinceName (ST) = "Tokushima"
localityName (L) = "Tokushima City"
organizationName (O) = "The University of Tokushima"
organizationalUnitName (OU) = "EDB"
commonName (CN) = "S10725"
emailAddress = "tūmė (@ėė ₍.₎ tōkūśhīmā-ū ₍.₎ āċ ₍.₎ jp"
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URL (任意):
顔写真 (推奨): 橋爪 正樹 [継承]
WOS (任意):
Scopus (任意): 1.7102046628 [継承]
備考 (任意):

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和文冊子 ● [氏名] 橋爪 正樹, Masaki Hashizume, [Email] tume@ee.tokushima-u.ac.jp, [職名・学位] 教授・博士(工学), [専門分野] 電子回路工学, [所属学会] 電子情報通信学会・IEEE CAS Society・社団法人 エレクトロニクス実装学会社団法人 エレクトロニクス実装学会社団法人 エレクトロニクス実装学会・The IEEE Seventh Workshop on RTL and High Level Testing(WRTLT'06)・The IEEE 15th Asian Test Symposium(ATS'06)・The IEEE 14th Asian Test Symposium(ATS'05)・IEEE Asian Test Symposium Sterring Coommittee・IEEE Workshop on RTL and High Level Testing Steerring Coommittee・IEEE Asian Test Symposium Sterring Coommittee・IEEE Workshop on RTL and High Level Testing Steerring Coommittee・IEEE Workshop on RTL and High Level Testing 2012・IEEE Asian Test Symposium 2012・IEEE Asian Test Symposium 2013・IEEE Asian Test Symposium 2014・IEEE Workshop on RTL and High Level Testing Steerring Coommittee・IEEE Workshop on RTL and High Level Testing 2014 Program Coommittee・IEEE Workshop on RTL and High Level Testing 2012・IEEE Asian Test Symposium Steering Committee・IEEE Asian Test Symposium 2015・IEEE Workshop on RTL and High Level Testing Steerring Coommittee・IEEE Asian Test Symposium Sterring Coommittee・IEEE Asian Test Symposium Sterring Coommittee・IEEE Workshop on RTL and High Level Testing Steerring Coommittee, [社会活動] 独立行政法人 科学技術振興機構独立行政法人 科学技術振興機構徳島県 徳島県教育委員会徳島県 徳島県教育委員会徳島県 徳島県教育委員会・四国生産性本部, [研究テーマ] CMOS回路の電流テストとその検査回路設計, 論理回路の設計と検査, CMOS回路の欠陥検査法, ミックスドシグナル回路のテスト, プリント基板上の論理回路の電気的検査, [キーワード] 電流テスト, 検査容易化設計, メモリテスト, アナログ回路テスト, 論理回路, リード浮きテスト, [共同研究可能テーマ] 論理回路の設計と検査
欧文冊子 ● [Name] Masaki Hashizume, [Email] tume@ee.tokushima-u.ac.jp, [Title, Degree] Professor博士(工学), [Field of Study] Electronic Circuit Engineering, [Academic Society] Institute of Electronics, Information and Communication Engineers・IEEE CAS Society・Japan Institute of Electronics PackagingJapan Institute of Electronics PackagingJapan Institute of Electronics Packaging・The IEEE Seventh Workshop on RTL and High Level Testing(WRTLT'06)・The IEEE 15th Asian Test Symposium(ATS'06)・The IEEE 14th Asian Test Symposium(ATS'05)・IEEE Asian Test Symposium Sterring Coommittee・IEEE Workshop on RTL and High Level Testing Steerring Coommittee・IEEE Asian Test Symposium Sterring Coommittee・IEEE Workshop on RTL and High Level Testing Steerring Coommittee・IEEE Workshop on RTL and High Level Testing 2012・IEEE Asian Test Symposium 2012・IEEE Asian Test Symposium 2013・IEEE Asian Test Symposium 2014・IEEE Workshop on RTL and High Level Testing Steerring Coommittee・IEEE Workshop on RTL and High Level Testing 2014 Program Coommittee・IEEE Workshop on RTL and High Level Testing 2012・IEEE Asian Test Symposium Steering Committee・IEEE Asian Test Symposium 2015・IEEE Workshop on RTL and High Level Testing Steerring Coommittee・IEEE Asian Test Symposium Sterring Coommittee・IEEE Asian Test Symposium Sterring Coommittee・IEEE Workshop on RTL and High Level Testing Steerring Coommittee, [Social Activity] Japan Science and Technology AgencyJapan Science and Technology Agency徳島県教育委員会, Tokushima Prefectural Government徳島県教育委員会, Tokushima Prefectural Government徳島県教育委員会, Tokushima Prefectural Government四国生産性本部, [Theme of Study] Current Test of CMOS Circuits and Test Circuit Design, Design and Test of Computers, Defect-Based Tests of CMOS Circuits, Mixed Signal Tests, Electrical Test of Logic Circuits on PCBs, [Keyword] Current Test, Design for Testability, Memory Test, Analog Test, Logic Circuit, Lead Open Test, [Collaboratible] 論理回路の設計と検査

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