『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
ID: Pass:

登録内容 (EID=85799)

EID=85799EID:85799, Map:0, LastModified:2013年8月26日(月) 15:02:52, Operator:[三木 ちひろ], Avail:TRUE, Censor:0, Owner:[[学科長]/[徳島大学.工学部.電気電子工学科]], Read:継承, Write:継承, Delete:継承.
種別 (必須): 学術論文 (審査論文) [継承]
言語 (必須):
招待 (推奨):
審査 (推奨):
カテゴリ (推奨):
共著種別 (推奨):
学究種別 (推奨):
組織 (推奨): 1.徳島大学.工学部.電気電子工学科.物性デバイス講座 [継承]
著者 (必須): 1.富永 喜久雄
役割 (任意): 共著 [継承]
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
[継承]
2. (英) Yuasa Takayuki (日) (読)
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
[継承]
3. (英) Kume Michiya (日) (読)
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
[継承]
4. (英) Tada Osamu (日) (読)
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
[継承]
題名 (必須): (英) Influence of Energetic Oxygen Bombardment on Conductive ZnO Films  (日)    [継承]
副題 (任意):
要約 (任意): (英)   (日) 本論文は,光電子工学素子中の透明電極としての応用が期待されている導電性酸化亜鉛薄膜をスパッタ法により作製する際に,高速酸素原子による膜衝撃が膜の導電率を極端に小さくすることを証明したものである.また,ホール電圧等の測定から,膜中のキャリア電子密度や移動度に及ぼす酸素原子衝撃の影響も評価した.   [継承]
キーワード (推奨):
発行所 (推奨): 応用物理学会 [継承]
誌名 (必須): Japanese Journal of Applied Physics ([応用物理学会])
(pISSN: 0021-4922, eISSN: 1347-4065)

ISSN (任意): 0021-4922
ISSN: 0021-4922 (pISSN: 0021-4922, eISSN: 1347-4065)
Title: Japanese journal of applied physics (2008)
Title(ISO): Jpn J Appl Phys (2008)
Supplier: 社団法人応用物理学会
Publisher: Japan Society of Applied Physics
 (NLM Catalog  (Webcat Plus  (Webcat Plus  (Webcat Plus  (Scopus  (Scopus  (Scopus  (CrossRef (Scopus information is found. [need login])
[継承]
[継承]
(必須): 24 [継承]
(必須): 8 [継承]
(必須): 944 949 [継承]
都市 (任意):
年月日 (必須): 西暦 1985年 8月 20日 (昭和 60年 8月 20日) [継承]
URL (任意): http://ci.nii.ac.jp/naid/110003910541/ [継承]
DOI (任意): 10.1143/JJAP.24.944    (→Scopusで検索) [継承]
PMID (任意):
NAID (任意): 110003910541 [継承]
WOS (任意):
Scopus (任意):
評価値 (任意):
被引用数 (任意):
指導教員 (推奨):
備考 (任意):

標準的な表示

和文冊子 ● Kikuo Tominaga, Takayuki Yuasa, Michiya Kume and Osamu Tada : Influence of Energetic Oxygen Bombardment on Conductive ZnO Films, Japanese Journal of Applied Physics, Vol.24, No.8, 944-949, 1985.
欧文冊子 ● Kikuo Tominaga, Takayuki Yuasa, Michiya Kume and Osamu Tada : Influence of Energetic Oxygen Bombardment on Conductive ZnO Films, Japanese Journal of Applied Physics, Vol.24, No.8, 944-949, 1985.

関連情報

Number of session users = 0, LA = 1.82, Max(EID) = 360929, Max(EOID) = 966657.