(英) Prof. Hanabusa lectures on the method of materials evaluation by means of X-ray diffraction: Principle of X-ray diffraction, macro and micro lattice strains, and residual stress measurement. Assoc. Prof. Iwata reviews instrumental methods for extracting information on materials using optical and spectroscopic techniques: Scientific measurements, data processing, and instrumentation for chemical analysis. (日) X線および光学的手法を用いて材料の結晶構造および微視的格子ひずみ，あるいは物質情報を抽出する手法，さらに結晶のミクロ·ナノ的構造とマクロ的性質の関係を基本とした新材料の創製·評価および応用，またそのための装置設計·製作に関する事項を講述する． (英 崇夫教授)X線回折法を利用した材料の結晶構造解析および格子ひずみ解析をとおして，新材料を創成·評価する手法の講義を担当する． (岩田哲郎助教授)光学，分光学の手法を用いた物質情報の抽出手法，また，そのための計測機器，分析機器などの測定装置の設計と評価方法についての講義を担当する．科学計測学全般についても講述する．
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マイクロ·ナノ工学 / Micro-Nano Engineering
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