『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
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登録内容 (EID=394372)

EID=394372EID:394372, Map:0, LastModified:2023年3月6日(月) 14:23:04, Operator:[四柳 浩之], Avail:TRUE, Censor:0, Owner:[四柳 浩之], Read:継承, Write:継承, Delete:継承.
カテゴリ (必須): 研究 [継承]
団体 (必須): (英) IEEE CASS Shikoku Chapter (日) (読) [継承]
名称 (必須): (英) IEEE CASS Shikoku Chapter Best Paper Award (日) (読) [継承]
組織 (推奨): 1.徳島大学.先端技術科学教育部.システム創生工学専攻.電気電子創生工学コース.知能電子回路講座 (2006年4月1日〜) [継承]
受賞者 (必須): 1. (英) Kanda Michiya (日) 神田 道也 (読) かんだ みちや
学籍番号 (推奨): **** [ユーザ]
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2.四柳 浩之 ([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.知能電子回路分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.電気電子システムコース.知能電子回路講座])
学籍番号 (推奨):
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3.橋爪 正樹
学籍番号 (推奨):
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テーマ (必須): (英) Open Defect Detection Not Utilizing Boundary Scan Flip-Flops in Assembled Circuit Boards  (日)    [継承]
年月日 (必須): 西暦 2022年 2月 24日 (令和 4年 2月 24日) [継承]
指導教員 (推奨):
備考 (任意):

標準的な表示

和文冊子 ● 神田 道也, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : Open Defect Detection Not Utilizing Boundary Scan Flip-Flops in Assembled Circuit Boards, IEEE CASS Shikoku Chapter Best Paper Award, IEEE CASS Shikoku Chapter, 2022年2月.
欧文冊子 ● Michiya Kanda, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume : Open Defect Detection Not Utilizing Boundary Scan Flip-Flops in Assembled Circuit Boards, IEEE CASS Shikoku Chapter Best Paper Award, IEEE CASS Shikoku Chapter, Feb. 2022.

関連情報

Number of session users = 0, LA = 0.30, Max(EID) = 414722, Max(EOID) = 1119481.