『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
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登録内容 (EID=375140)

EID=375140EID:375140, Map:0, LastModified:2021年4月23日(金) 15:48:04, Operator:[四柳 浩之], Avail:TRUE, Censor:0, Owner:[橋爪 正樹], Read:継承, Write:継承, Delete:継承.
種別 (必須): 国内講演発表 [継承]
言語 (必須): 日本語 [継承]
招待 (推奨):
審査 (推奨):
カテゴリ (推奨): 研究 [継承]
共著種別 (推奨): 単独著作 (徳島大学内の単一の研究グループ(研究室等)内の研究 (単著も含む)) [継承]
学究種別 (推奨): 博士前期課程学生による研究報告 [継承]
組織 (推奨): 1.徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.知能電子回路分野 (2017年4月1日〜) [継承]
2.徳島大学.理工学部.理工学科.電気電子システムコース.知能電子回路講座 (2016年4月1日〜) [継承]
著者 (必須): 1. (英) Arimoto Kohji (日) 有元 康滋 (読) ありもと こうじ
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学籍番号 (推奨): **** [ユーザ]
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2. (英) Makino Koji (日) 牧野 紘史 (読) まきの こうじ
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貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨): **** [ユーザ]
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3.四柳 浩之 ([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.知能電子回路分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.電気電子システムコース.知能電子回路講座])
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4.橋爪 正樹
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学籍番号 (推奨):
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題名 (必須): (英) On Test Time Reduction by Selecting Cells for Observing Delay Using Boundary Scan with Embedded TDC  (日) TDC組込み型バウンダリスキャンの観測セル部分選択による検査時間削減について   [継承]
副題 (任意):
要約 (任意):
キーワード (推奨):
発行所 (推奨): 社団法人 エレクトロニクス実装学会 [継承]
誌名 (必須): (英) (日) 第35回エレクトロニクス実装学会春季講演大会 (読)
ISSN (任意):
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(必須): 18B2-02-1 18B2-02-4 [継承]
都市 (必須): オンライン (Online) [継承]
年月日 (必須): 西暦 2021年 3月 18日 (令和 3年 3月 18日) [継承]
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和文冊子 ● 有元 康滋, 牧野 紘史, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : TDC組込み型バウンダリスキャンの観測セル部分選択による検査時間削減について, 第35回エレクトロニクス実装学会春季講演大会, 18B2-02-1-18B2-02-4, 2021年3月.
欧文冊子 ● Kohji Arimoto, Koji Makino, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume : On Test Time Reduction by Selecting Cells for Observing Delay Using Boundary Scan with Embedded TDC, 第35回エレクトロニクス実装学会春季講演大会, 18B2-02-1-18B2-02-4, March 2021.

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