『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
登録内容 (EID=369321)
| EID=369321 | EID:369321,
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LastModified:2020年8月21日(金) 16:47:02,
Operator:[橋爪 正樹],
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| ○カテゴリ (必須): | □ | 研究
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| ○団体 (必須): | □ | 社団法人 エレクトロニクス実装学会
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| ○名称 (必須): | □ | (英) (日) 第33回エレクトロニクス実装学会春季講演大会研究奨励賞 (読)
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| ○組織 (推奨): |
| ○受賞者 (必須): | 1. | (英) Ikeuchi Kosuke (日) 池内 康祐 (読) いけうち こうすけ
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| ○テーマ (必須): | □ | (英) (日) バウンダリスキャンテスト回路を用いた待機モード時電気試験を可能にするTAPCの開発
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| ○年月日 (必須): | □ | 西暦 2020年 3月 4日 (令和 2年 3月 4日)
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| ○指導教員 (推奨): | 1. | 橋爪 正樹
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| 2. | 四柳 浩之 ([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.知能電子回路分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.電気電子システムコース.知能電子回路講座])
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| ○備考 (任意): |
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標準的な表示
| 和文冊子 ● |
池内 康祐 : バウンダリスキャンテスト回路を用いた待機モード時電気試験を可能にするTAPCの開発, 第33回エレクトロニクス実装学会春季講演大会研究奨励賞, 社団法人 エレクトロニクス実装学会, 2020年3月. |
| 欧文冊子 ● |
Kosuke Ikeuchi : バウンダリスキャンテスト回路を用いた待機モード時電気試験を可能にするTAPCの開発, 第33回エレクトロニクス実装学会春季講演大会研究奨励賞, Japan Institute of Electronics Packaging, March 2020. |
関連情報
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