『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
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登録内容 (EID=355464)

EID=355464EID:355464, Map:0, LastModified:2019年8月11日(日) 00:37:03, Operator:[四柳 浩之], Avail:TRUE, Censor:0, Owner:[四柳 浩之], Read:継承, Write:継承, Delete:継承.
○カテゴリ (必須): □研究 [継承]
○団体 (必須): □ (英) The 26th IEEE Asian Test Symposium (日) (読) [継承]
○名称 (必須): □ (英) Best Paper Award (日) (読) [継承]
○組織 (推奨): 1.徳島大学.先端技術科学教育部.システム創生工学専攻.電気電子創生工学コース.知能電子回路講座 (2006年4月1日〜) [継承]
○受賞者 (必須): 1. (英) Lu Shyue-Kung (日) (読)
○学籍番号 (推奨):
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2. (英) Yu Shu-Chi (日) (読)
○学籍番号 (推奨):
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3.橋爪 正樹
○学籍番号 (推奨):
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4.四柳 浩之 ([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.知能電子回路分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.電気電子システムコース.知能電子回路講座])
○学籍番号 (推奨):
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○テーマ (必須): □(英) Fault-aware page address remapping techniques for enhancing yield and reliability of flash memories  (日)    [継承]
○年月日 (必須): □西暦 2018年 10月 16日 (平成 30年 10月 16日) [継承]
○指導教員 (推奨):
○備考 (任意):

標準的な表示

和文冊子 ● Shyue-Kung Lu, Shu-Chi Yu, 橋爪 正樹, 四柳 浩之 : Fault-aware page address remapping techniques for enhancing yield and reliability of flash memories, Best Paper Award, The 26th IEEE Asian Test Symposium, 2018年10月.
欧文冊子 ● Shyue-Kung Lu, Shu-Chi Yu, Masaki Hashizume and Hiroyuki Yotsuyanagi : Fault-aware page address remapping techniques for enhancing yield and reliability of flash memories, Best Paper Award, The 26th IEEE Asian Test Symposium, Oct. 2018.

関連情報

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