『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
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登録内容 (EID=352365)

EID=352365EID:352365, Map:0, LastModified:2020年8月10日(月) 21:27:05, Operator:[山田 美緒], Avail:TRUE, Censor:承認済, Owner:[安井 武史], Read:継承, Write:継承, Delete:継承.
○種別 (必須): □国際会議 [継承]
○言語 (必須): □英語 [継承]
○招待 (推奨):
○審査 (推奨): □Peer Review [継承]
○カテゴリ (推奨): □研究 [継承]
○共著種別 (推奨): □国内共著 (徳島大学内研究者と国内(学外)研究者との共同研究 (国外研究者を含まない)) [継承]
○学究種別 (推奨):
○組織 (推奨): 1.徳島大学.ポストLEDフォトニクス研究所 (2019年3月1日〜) [継承]
○著者 (必須): 1.水野 孝彦
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
[継承]
2. (英) Tsuda Takuya (日) 津田 卓哉 (読) つだ たくや
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨): □**** [ユーザ]
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3.長谷 栄治 ([徳島大学.ポストLEDフォトニクス研究所])
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨): □**** [ユーザ]
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4.南川 丈夫
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
[継承]
5.山本 裕紹
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
[継承]
6.安井 武史 ([徳島大学.ポストLEDフォトニクス研究所]/[徳島大学.理工学部.理工学科.機械科学コース.生産工学講座])
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
[継承]
○題名 (必須): □(英) Improvement of image quality in dual-comb microscopy by post-amplification of dual comb lights  (日)    [継承]
○副題 (任意):
○要約 (任意):
○キーワード (推奨):
○発行所 (推奨): □Optical Society of America [継承]
○誌名 (必須): □ (英) Conference on Lasers and Electro-Optics (CLEO) 2019, Technical Digest (online) (日) (読)
○ISSN (任意):
[継承]
○巻 (必須): □ [継承]
○号 (必須): □ [継承]
○頁 (必須): □AF3K.4 AF3K.4 [継承]
○都市 (必須): □サンノゼ (San Jose/[アメリカ合衆国]) [継承]
○年月日 (必須): □西暦 2019年 5月 10日 (令和 元年 5月 10日) [継承]
○URL (任意):
○DOI (任意): □10.1364/CLEO_AT.2019.AF3K.4    (→Scopusで検索) [継承]
○PMID (任意):
○CRID (任意):
○WOS (任意):
○Scopus (任意): □2-s2.0-85068144234 [継承]
○評価値 (任意):
○被引用数 (任意):
○指導教員 (推奨):
○備考 (任意):

標準的な表示

和文冊子 ● Takahiko Mizuno, Takuya Tsuda, Eiji Hase, Takeo Minamikawa, Hirotsugu Yamamoto and Takeshi Yasui : Improvement of image quality in dual-comb microscopy by post-amplification of dual comb lights, Conference on Lasers and Electro-Optics (CLEO) 2019, Technical Digest (online), AF3K.4, San Jose, May 2019.
欧文冊子 ● Takahiko Mizuno, Takuya Tsuda, Eiji Hase, Takeo Minamikawa, Hirotsugu Yamamoto and Takeshi Yasui : Improvement of image quality in dual-comb microscopy by post-amplification of dual comb lights, Conference on Lasers and Electro-Optics (CLEO) 2019, Technical Digest (online), AF3K.4, San Jose, May 2019.

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