| ○種別 (必須): | □ | 学術論文 (審査論文)
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| ○言語 (必須): | □ | 英語
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| ○招待 (推奨): |
| ○審査 (推奨): | □ | Peer Review
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| ○カテゴリ (推奨): | □ | 研究
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| ○共著種別 (推奨): | □ | 国内共著 (徳島大学内研究者と国内(学外)研究者との共同研究 (国外研究者を含まない))
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| ○学究種別 (推奨): |
| ○組織 (推奨): |
| ○著者 (必須): | 1. | 長谷 栄治 ([徳島大学.ポストLEDフォトニクス研究所])
| ○役割 (任意): |
| ○貢献度 (任意): |
| ○学籍番号 (推奨): |
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| 2. | 南川 丈夫
| ○役割 (任意): |
| ○貢献度 (任意): |
| ○学籍番号 (推奨): |
| [継承] |
| 3. | (英) Miyamoto Shuji (日) 宮本 周治 (読) みやもと しゅうじ
| ○役割 (任意): |
| ○貢献度 (任意): |
| ○学籍番号 (推奨): | □ | ****
| [ユーザ] |
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| 4. | (英) Ichikawa Ryuji (日) 市川 竜嗣 (読) いちかわ りゅうじ
| ○役割 (任意): |
| ○貢献度 (任意): |
| ○学籍番号 (推奨): | □ | ****
| [ユーザ] |
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| 5. | 謝 宜達 ([徳島大学.大学院ソシオテクノサイエンス研究部.先進物質材料部門])
| ○役割 (任意): |
| ○貢献度 (任意): |
| ○学籍番号 (推奨): |
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| 6. | 水谷 康弘
| ○役割 (任意): |
| ○貢献度 (任意): |
| ○学籍番号 (推奨): |
| [継承] |
| 7. | 岩田 哲郎
| ○役割 (任意): |
| ○貢献度 (任意): |
| ○学籍番号 (推奨): |
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| 8. | 山本 裕紹
| ○役割 (任意): |
| ○貢献度 (任意): |
| ○学籍番号 (推奨): |
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| 9. | 安井 武史 ([徳島大学.ポストLEDフォトニクス研究所]/[徳島大学.理工学部.理工学科.機械科学コース.生産工学講座])
| ○役割 (任意): |
| ○貢献度 (任意): |
| ○学籍番号 (推奨): |
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| ○題名 (必須): | □ | (英) Scan-Less, Kilo-Pixel, Line-Field Confocal Phase Imaging with Spectrally Encoded Dual-Comb Microscopy (日)
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| ○副題 (任意): |
| ○要約 (任意): | □ | (英) Confocal laser microscopy (CLM) is a powerful tool in life science research and industrial inspection, and its image acquisition rate is boosted by scan-less imaging techniques. However, the optical-intensity-based image contrast in CLM makes it difficult to visualize transparent non-fluorescent objects or reflective objects with nanometer unevenness. In this paper, we introduce an optical frequency comb (OFC) to scan-less CLM to give the optical-phase-based image contrast. One-dimensional (1D) image pixels of a sample are separately encoded onto OFC modes via 1D spectral encoding by using OFC as an optical carrier of amplitude and phase with a vast number of discrete frequency channels. Then, line-field confocal information of amplitude and phase are decoded from a mode-resolved OFC amplitude and phase spectra obtained by dual-comb spectroscopy without the need for mechanical scanning. The proposed confocal phase imaging will further expand the application fields of CLM. (日)
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| ○キーワード (推奨): |
| ○発行所 (推奨): | □ | IEEE
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| ○誌名 (必須): | □ | IEEE Journal of Selected Topics in Quantum Electronics ([IEEE])
(pISSN: 1077-260X, eISSN: 1558-4542)
| ○ISSN (任意): | □ | 1077-260X
ISSN: 1077-260X
(pISSN: 1077-260X, eISSN: 1558-4542) Title: IEEE journal of selected topics in quantum electronics : a publication of the IEEE Lasers and Electro-optics SocietyTitle(ISO): IEEE J Sel Top Quantum ElectronPublisher: IEEE (NLM Catalog)
(IEEE)
(Scopus)
(CrossRef)
(Scopus information is found. [need login]) | [継承] |
| [継承] |
| ○巻 (必須): | □ | 25
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| ○号 (必須): | □ | 1
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| ○頁 (必須): | □ | 6801408 6801408
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| ○都市 (任意): |
| ○年月日 (必須): | □ | 西暦 2018年 11月 9日 (平成 30年 11月 9日)
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| ○URL (任意): |
| ○DOI (任意): | □ | 10.1109/JSTQE.2018.2879017 (→Scopusで検索)
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| ○PMID (任意): |
| ○CRID (任意): |
| ○WOS (任意): |
| ○Scopus (任意): | □ | 2-s2.0-85056348979
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| ○評価値 (任意): |
| ○被引用数 (任意): |
| ○指導教員 (推奨): |
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