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登録内容 (EID=349604)

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種別 (必須): 国内講演発表 [継承]
言語 (必須): 日本語 [継承]
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著者 (必須): 1. (英) (日) 辻 笑子 (読)
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2. (英) (日) 伊達 幸平 (読)
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3.野口 直樹 ([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.応用化学系.物質機能化学分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.応用化学システムコース.物質機能化学講座])
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4. (英) (日) 西脇 芳典 (読)
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5. (英) (日) 橋本 敬 (読)
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6. (英) (日) 本田 定男 (読)
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学籍番号 (推奨):
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7. (英) (日) 二宮 利男 (読)
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学籍番号 (推奨):
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8. (英) (日) 藤原 明比古 (読)
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9. (英) (日) 高田 昌樹 (読)
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10. (英) (日) 早川 慎二郎 (読)
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学籍番号 (推奨):
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題名 (必須): (英)   (日) 転換電子収量法による鉄腐食層のXAFS測定・イメージング   [継承]
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発行所 (推奨):
誌名 (必須): (英) (日) 第27回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム (読)
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年月日 (必須): 西暦 2014年 1月 初日 (平成 26年 1月 初日) [継承]
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和文冊子 ● 辻 笑子, 伊達 幸平, 野口 直樹, 西脇 芳典, 橋本 敬, 本田 定男, 二宮 利男, 藤原 明比古, 高田 昌樹, 早川 慎二郎 : 転換電子収量法による鉄腐食層のXAFS測定・イメージング, 第27回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム, 2014年1月.
欧文冊子 ● 辻 笑子, 伊達 幸平, Naoki Noguchi, 西脇 芳典, 橋本 敬, 本田 定男, 二宮 利男, 藤原 明比古, 高田 昌樹 and 早川 慎二郎 : 転換電子収量法による鉄腐食層のXAFS測定・イメージング, 第27回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム, Jan. 2014.

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