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○種別 (必須): □国際会議 [継承]
○言語 (必須): □英語 [継承]
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○著者 (必須): 1. (英) Takiguchi T. (日) (読)
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2.野口 直樹 ([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.応用化学系.物質機能化学分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.応用化学システムコース.物質機能化学講座])
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○学籍番号 (推奨):
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3. (英) Kutluk G. (日) (読)
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
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4. (英) Namatame H. (日) (読)
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
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5. (英) Hayakawa S. (日) (読)
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
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○題名 (必須): □(英) Characterization of copper sulfides and relative materials with XAFS spectroscopy  (日)    [継承]
○副題 (任意):
○要約 (任意):
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○発行所 (推奨):
○誌名 (必須): □ (英) The 15th International Conference of Total Reflection X-ray Fluorescence Analysis and Related Methods (日) (読)
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○巻 (必須): □ [継承]
○号 (必須): □ [継承]
○頁 (必須): □ [継承]
○都市 (必須):
○年月日 (必須): □西暦 2013年 9月 初日 (平成 25年 9月 初日) [継承]
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和文冊子 ● T. Takiguchi, Naoki Noguchi, G. Kutluk, H. Namatame and S. Hayakawa : Characterization of copper sulfides and relative materials with XAFS spectroscopy, The 15th International Conference of Total Reflection X-ray Fluorescence Analysis and Related Methods, (都市), Sep. 2013.
欧文冊子 ● T. Takiguchi, Naoki Noguchi, G. Kutluk, H. Namatame and S. Hayakawa : Characterization of copper sulfides and relative materials with XAFS spectroscopy, The 15th International Conference of Total Reflection X-ray Fluorescence Analysis and Related Methods, (都市), Sep. 2013.

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