EDB [[野口直樹]/Imaging of residual stress around inclusion in sapphire by micro-Raman and photoluminescence mapping analyses/Frontiers in Life & Earth Planetary Sciences] (349544)

EID=349544

EID:349544, Map:0, LastModified:2019年2月22日(金) 13:41:26, Operator:[野口直樹], Avail:TRUE, Censor:0, Owner:[野口直樹], Read:継承, Write:継承, Delete:継承.

○種別 (必須):

□

国際会議

[継承]

○言語 (必須):

□

英語

[継承]

○招待 (推奨):

○審査 (推奨):

○カテゴリ (推奨):

□

研究

[継承]

○共著種別 (推奨):

○学究種別 (推奨):

○組織 (推奨):

○著者 (必須):

1.

野口直樹 ([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.応用化学系.物質機能化学分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.応用化学システムコース.物質機能化学講座])

○役割 (任意):

○貢献度 (任意):

○学籍番号 (推奨):

[継承]

○題名 (必須):

□

(英) Imaging of residual stress around inclusion in sapphire by micro-Raman and photoluminescence mapping analyses (日)

[継承]

○副題 (任意):

○要約 (任意):

○キーワード (推奨):

○発行所 (推奨):

○誌名 (必須):

□

(英) Frontiers in Life & Earth Planetary Sciences (日) (読)

○ISSN (任意):

[継承]

○巻 (必須):

□

[継承]

○号 (必須):

□

[継承]

○頁 (必須):

□

[継承]

○都市 (必須):

○年月日 (必須):

□

西暦 2012年 2月初日 (平成 24年 2月初日)

[継承]

○URL (任意):

○DOI (任意):

○PMID (任意):

○NAID (任意):

○WOS (任意):

○Scopus (任意):

○評価値 (任意):

○被引用数 (任意):

○指導教員 (推奨):

○備考 (任意):

和文冊子 ●	Naoki Noguchi : Imaging of residual stress around inclusion in sapphire by micro-Raman and photoluminescence mapping analyses, Frontiers in Life & Earth Planetary Sciences, (都市), Feb. 2012.
欧文冊子 ●	Naoki Noguchi : Imaging of residual stress around inclusion in sapphire by micro-Raman and photoluminescence mapping analyses, Frontiers in Life & Earth Planetary Sciences, (都市), Feb. 2012.

Number of session users = 4, LA = 1.01, Max(EID) = 374105, Max(EOID) = 1001703.

登録内容 (EID=349544)

標準的な表示

関連情報