『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
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EID=348102EID:348102, Map:0, LastModified:2018年12月12日(水) 13:12:50, Operator:[三木 ちひろ], Avail:TRUE, Censor:0, Owner:[西野 克志], Read:継承, Write:継承, Delete:継承.
種別 (必須): 国内講演発表 [継承]
言語 (必須): 日本語 [継承]
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著者 (必須): 1. (英) Senoo Shoki (日) 瀬尾 翔輝 (読) せのお しょうき
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学籍番号 (推奨): **** [ユーザ]
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2.西野 克志 ([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.物性デバイス分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.電気電子システムコース.物性デバイス講座])
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学籍番号 (推奨):
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題名 (必須): (英)   (日) AlN 結晶成長における基板表面酸化膜除去の効果   [継承]
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キーワード (推奨):
発行所 (推奨):
誌名 (必須): 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 (電気関係学会四国支部連合大会)
ISSN (任意):
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(必須): [継承]
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(必須): 11 13 [継承]
都市 (必須):
年月日 (必須): 西暦 2018年 9月 22日 (平成 30年 9月 22日) [継承]
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和文冊子 ● 瀬尾 翔輝, 西野 克志 : AlN 結晶成長における基板表面酸化膜除去の効果, 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集, 11-13, 2018年9月.
欧文冊子 ● Shoki Senoo and Katsushi Nishino : AlN 結晶成長における基板表面酸化膜除去の効果, Journal of Shikoku-Section Joint Convention of the Institutes of Electrical and Related Engineers, 11-13, Sep. 2018.

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