『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
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登録内容 (EID=345314)

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種別 (必須): 国際会議 [継承]
言語 (必須): 英語 [継承]
招待 (推奨): 依頼 [継承]
審査 (推奨): Peer Review [継承]
カテゴリ (推奨): 研究 [継承]
共著種別 (推奨): 単独著作 (徳島大学内の単一の研究グループ(研究室等)内の研究 (単著も含む)) [継承]
学究種別 (推奨): 修士課程学生による研究報告 [継承]
組織 (推奨): 1.徳島大学.先端技術科学教育部.システム創生工学専攻.電気電子創生工学コース.物性デバイス講座 (2006年4月1日〜) [継承]
著者 (必須): 1. (英) Shimada Takaya (日) (読)
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学籍番号 (推奨): **** [ユーザ]
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2.西野 克志 ([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.物性デバイス分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.電気電子システムコース.物性デバイス講座])
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学籍番号 (推奨):
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題名 (必須): (英) Characterization of dislocations in sublimation-grown AlN crystals  (日)    [継承]
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キーワード (推奨):
発行所 (推奨):
誌名 (必須): (英) 4th International Forum on Advanced Technologies (日) (読)
ISSN (任意):
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都市 (必須): 徳島 (Tokushima/[日本国]) [継承]
年月日 (必須): 西暦 2018年 3月 8日 (平成 30年 3月 8日) [継承]
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和文冊子 ● Takaya Shimada and Katsushi Nishino : Characterization of dislocations in sublimation-grown AlN crystals, 4th International Forum on Advanced Technologies, (巻), (号), (頁), Tokushima, March 2018.
欧文冊子 ● Takaya Shimada and Katsushi Nishino : Characterization of dislocations in sublimation-grown AlN crystals, 4th International Forum on Advanced Technologies, (巻), (号), (頁), Tokushima, March 2018.

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