『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
登録内容 (EID=339247)
EID=339247 | EID:339247,
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LastModified:2019年9月3日(火) 16:28:57,
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○種別 (必須): | □ | 国際会議
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○言語 (必須): | □ | 英語
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○招待 (推奨): |
○審査 (推奨): | □ | Peer Review
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○カテゴリ (推奨): | □ | 研究
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○共著種別 (推奨): | □ | 国内共著 (徳島大学内研究者と国内(学外)研究者との共同研究 (国外研究者を含まない))
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○学究種別 (推奨): |
○組織 (推奨): |
○著者 (必須): | 1. | 長谷 栄治 ([徳島大学.ポストLEDフォトニクス研究所])
○役割 (任意): |
○貢献度 (任意): |
○学籍番号 (推奨): |
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| 2. | (英) Miyamoto Shuji (日) 宮本 周治 (読) みやもと しゅうじ
○役割 (任意): |
○貢献度 (任意): |
○学籍番号 (推奨): | □ | ****
| [ユーザ] |
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| 3. | 水野 孝彦
○役割 (任意): |
○貢献度 (任意): |
○学籍番号 (推奨): |
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| 4. | 南川 丈夫
○役割 (任意): |
○貢献度 (任意): |
○学籍番号 (推奨): |
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| 5. | 山本 裕紹
○役割 (任意): |
○貢献度 (任意): |
○学籍番号 (推奨): |
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| 6. | 安井 武史 ([徳島大学.ポストLEDフォトニクス研究所]/[徳島大学.理工学部.理工学科.機械科学コース.生産工学講座])
○役割 (任意): |
○貢献度 (任意): |
○学籍番号 (推奨): |
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○題名 (必須): | □ | (英) Dual-comb microscopy for scanless confocal phase imaging (日)
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○副題 (任意): |
○要約 (任意): |
○キーワード (推奨): |
○発行所 (推奨): | □ | Optical Society of America
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○誌名 (必須): | □ | (英) Conference on Lasers and Electro-Optics (CLEO) 2018 (日) (読)
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○巻 (必須): | □ |
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○号 (必須): | □ |
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○頁 (必須): | □ | STh3L.3 STh3L.3
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○都市 (必須): | □ | サンノゼ (San Jose/[アメリカ合衆国])
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○年月日 (必須): | □ | 西暦 2018年 5月 17日 (平成 30年 5月 17日)
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○URL (任意): |
○DOI (任意): |
○PMID (任意): |
○CRID (任意): |
○WOS (任意): |
○Scopus (任意): | □ | 2-s2.0-85052597587
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○評価値 (任意): |
○被引用数 (任意): |
○指導教員 (推奨): |
○備考 (任意): |
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標準的な表示
和文冊子 ● |
Eiji Hase, Shuji Miyamoto, Takahiko Mizuno, Takeo Minamikawa, Hirotsugu Yamamoto and Takeshi Yasui : Dual-comb microscopy for scanless confocal phase imaging, Conference on Lasers and Electro-Optics (CLEO) 2018, STh3L.3, San Jose, May 2018. |
欧文冊子 ● |
Eiji Hase, Shuji Miyamoto, Takahiko Mizuno, Takeo Minamikawa, Hirotsugu Yamamoto and Takeshi Yasui : Dual-comb microscopy for scanless confocal phase imaging, Conference on Lasers and Electro-Optics (CLEO) 2018, STh3L.3, San Jose, May 2018. |
関連情報
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