『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
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登録内容 (EID=327357)

EID=327357EID:327357, Map:0, LastModified:2017年8月3日(木) 16:48:39, Operator:[四柳 浩之], Avail:TRUE, Censor:0, Owner:[四柳 浩之], Read:継承, Write:継承, Delete:継承.
組織 (推奨): 1.徳島大学.工学部.電気電子工学科.知能電子回路講座 [継承]
種別 (必須): 特許 [継承]
出願国 (必須):
発明者 (必須): 1. (英) (日) 口井 敏匡 (読)
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
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2.四柳 浩之 ([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.知能電子回路分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.電気電子システムコース.知能電子回路講座])
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
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出願人 (推奨):
名称 (必須): (英)   (日) 半導体集積回路,スキャン回路設計方法,テストパターン生成方法,および,スキャンテスト方法   [継承]
要約 (任意):
キーワード (推奨):
出願 (必須): 2004-225962
出願年月日 (必須): 西暦 2004年 8月 2日 (平成 16年 8月 2日) [継承]
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開示 (必須): 2006-047013
開示年月日 (必須): 西暦 2006年 2月 16日 (平成 18年 2月 16日) [継承]
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番号 (必須):
年月日 (必須):
備考 (任意):

標準的な表示

和文冊子 ● 口井 敏匡, 四柳 浩之 : 半導体集積回路,スキャン回路設計方法,テストパターン生成方法,および,スキャンテスト方法, 特願2004-225962 (2004年8月), 特開2006-047013 (2006年2月), (番号) ((年月日)).
欧文冊子 ● 口井 敏匡 and Hiroyuki Yotsuyanagi : 半導体集積回路,スキャン回路設計方法,テストパターン生成方法,および,スキャンテスト方法, 2004-225962 (Aug. 2004), 2006-047013 (Feb. 2006), (番号) ((年月日)).

関連情報

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