『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
登録内容 (EID=318251)
| EID=318251 | EID:318251,
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LastModified:2016年8月20日(土) 00:44:02,
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| ○組織 (必須): | 1. | 徳島大学.工学研究科.電気電子工学専攻.電気電子システム講座 (〜2011年3月31日)
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| 2. | 徳島文理大学
| ○研究者 (必須): | 1. | (英) (日) 多田 哲生 (読)
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| 3. | 秋田大学
| ○研究者 (必須): | 1. | (英) (日) 横山 洋之 (読)
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| ○種別 (必須): | □ | 他大学·他学部との共同研究
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| ○テーマ (必須): | □ | (英) (日) 3次元積層メモリICの電気検査法に関する研究
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| ○期間 (必須): | □ | 西暦 2014年 4月 1日 (平成 26年 4月 1日) 〜西暦 2017年 3月 31日 (平成 29年 3月 31日)
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| ○区分 (任意): |
| ○金額 (推奨): |
| ○備考 (任意): |
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標準的な表示
| 和文冊子 ● |
電気電子システム講座 (橋爪 正樹), 徳島文理大学 (多田 哲生), 秋田大学 (横山 洋之), 3次元積層メモリICの電気検査法に関する研究, 2014年4月〜2017年3月. |
| 欧文冊子 ● |
Communications and Controls (Masaki Hashizume), Bunri University (多田 哲生), Akita University (横山 洋之), 3次元積層メモリICの電気検査法に関する研究, April 2014-March 2017. |
関連情報
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