『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
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登録内容 (EID=312404)

EID=312404EID:312404, Map:0, LastModified:2016年5月6日(金) 16:56:16, Operator:[橋爪 正樹], Avail:TRUE, Censor:0, Owner:[橋爪 正樹], Read:継承, Write:継承, Delete:継承.
組織 (必須): 1.徳島大学.工学研究科.電気電子工学専攻.電気電子システム講座 (〜2011年3月31日)
研究者 (必須): 1.橋爪 正樹 [継承]
2.四柳 浩之 ([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.知能電子回路分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.電気電子システムコース.知能電子回路講座]) [継承]
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2. (英) (日) 国立台湾科技大学 (読)
研究者 (必須): 1. (英) Shyue-Kung Lu (日) (読) [継承]
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種別 (必須): 他大学·他学部との共同研究 [継承]
テーマ (必須): (英) 3-Dimensional memory IC tests and built-in test circuits  (日) 3次元メモリICテストと組み込みテスト回路に関する研究   [継承]
期間 (必須): 西暦 2015年 7月 1日 (平成 27年 7月 1日) 〜西暦 2016年 6月 末日 (平成 28年 6月 末日) [継承]
区分 (任意):
金額 (推奨): 1.800.0千円 [継承]
備考 (任意):

標準的な表示

和文冊子 ● 電気電子システム講座 (橋爪 正樹, 四柳 浩之), 国立台湾科技大学 (Lu Shyue-Kung), 3次元メモリICテストと組み込みテスト回路に関する研究, 2015年7月〜2016年6月.
欧文冊子 ● Communications and Controls (Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi), 国立台湾科技大学 (Lu Shyue-Kung), 3-Dimensional memory IC tests and built-in test circuits, July 2015-June 2016.

関連情報

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