『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
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登録内容 (EID=311822)

EID=311822EID:311822, Map:0, LastModified:2016年4月22日(金) 18:18:14, Operator:[井内 健介], Avail:TRUE, Censor:0, Owner:[井内 健介], Read:継承, Write:継承, Delete:継承.
組織 (推奨):
種別 (必須): 特許 [継承]
出願国 (必須): 1.国内 [継承]
発明者 (必須): 1. (英) (日) 土橋 和也 (読)
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
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2. (英) (日) 長池 宏史 (読)
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
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3.井内 健介 ([徳島大学.四国産学官連携イノベーション共同推進機構]/[徳島大学.研究支援・産官学連携センター])
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
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4. (英) (日) 藤原 馨 (読)
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
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5. (英) (日) 布瀬 暁志 (読)
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
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出願人 (推奨): 1. (英) (日) 東京エレクトロン株式会社 (読) [継承]
名称 (必須): (英)   (日) パーティクル測定装置,半導体製造装置及びパーティクル測定方法   [継承]
要約 (任意):
キーワード (推奨):
出願 (必須): 2013-73447
出願年月日 (必須): 西暦 2013年 3月 29日 (平成 25年 3月 29日) [継承]
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開示 (必須): 2014-196982
開示年月日 (必須): 西暦 2014年 10月 16日 (平成 26年 10月 16日) [継承]
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番号 (必須):
年月日 (必須):
備考 (任意):

標準的な表示

和文冊子 ● 土橋 和也, 長池 宏史, 井内 健介, 藤原 馨, 布瀬 暁志 : パーティクル測定装置,半導体製造装置及びパーティクル測定方法, 特願2013-73447 (2013年3月), 特開2014-196982 (2014年10月), (番号) ((年月日)).
欧文冊子 ● 土橋 和也, 長池 宏史, Kensuke Inai, 藤原 馨 and 布瀬 暁志 : パーティクル測定装置,半導体製造装置及びパーティクル測定方法, 2013-73447 (March 2013), 2014-196982 (Oct. 2014), (番号) ((年月日)).

関連情報

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