EDB [[徳島大学.工学研究科.電気電子工学専攻.電気電子システム講座]/国立台湾科技大学/[橋爪正樹]/[四柳浩之]/Shyue-Kung Lu/[他大学·他学部との共同研究]] (299509)

EID=299509

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○組織 (必須):

1.

徳島大学.工学研究科.電気電子工学専攻.電気電子システム講座 (〜2011年3月31日)

○研究者 (必須):	1.	橋爪正樹	[継承]
	2.	四柳浩之 ([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.知能電子回路分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.電気電子システムコース.知能電子回路講座])	[継承]

[継承]

2.

(英) (日) 国立台湾科技大学 (読)

○研究者 (必須):

1.

(英) Shyue-Kung Lu (日) (読)

[継承]

○種別 (必須):

□

他大学·他学部との共同研究

[継承]

○テーマ (必須):

□

(英) 3-Dimensional memory IC tests and built-in test circuits (日) 3次元メモリICテストと組み込みテスト回路に関する研究

[継承]

○期間 (必須):

□

西暦 2014年 7月 1日 (平成 26年 7月 1日) 〜西暦 2015年 3月末日 (平成 27年 3月末日)

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○区分 (任意):

○金額 (推奨):

1.

800.0千円

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○備考 (任意):

和文冊子 ●	電気電子システム講座 (橋爪正樹, 四柳浩之), 国立台湾科技大学 (Lu Shyue-Kung), 3次元メモリICテストと組み込みテスト回路に関する研究, 2014年7月〜2015年3月.
欧文冊子 ●	Communications and Controls (Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi), 国立台湾科技大学 (Lu Shyue-Kung), 3-Dimensional memory IC tests and built-in test circuits, July 2014-March 2015.

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