『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
登録内容 (EID=299505)
| EID=299505 | EID:299505,
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LastModified:2018年4月24日(火) 19:14:05,
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Owner:[橋爪 正樹],
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| ○カテゴリ (必須): | □ | 研究
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| ○団体 (必須): | □ | (英) IEEE CPMT Symposium Japan 2014 (日) (読)
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| ○名称 (必須): | □ | (英) Young Researcher Award (日) (読)
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| ○組織 (推奨): |
| ○受賞者 (必須): | 1. | (英) Nanbara Kosuke (日) 南原 康亮 (読) なんばら こうすけ
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| 2. | 四柳 浩之 ([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.知能電子回路分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.電気電子システムコース.知能電子回路講座])
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| 3. | 橋爪 正樹
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| ○テーマ (必須): | □ | (英) Threshold Value Estimation of Electrical Interconnect Tests with Scan FFs (日)
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| ○年月日 (必須): | □ | 西暦 2014年 11月 5日 (平成 26年 11月 5日)
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| ○指導教員 (推奨): |
| ○備考 (任意): |
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標準的な表示
| 和文冊子 ● |
南原 康亮, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : Threshold Value Estimation of Electrical Interconnect Tests with Scan FFs, Young Researcher Award, IEEE CPMT Symposium Japan 2014, 2014年11月. |
| 欧文冊子 ● |
Kosuke Nanbara, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume : Threshold Value Estimation of Electrical Interconnect Tests with Scan FFs, Young Researcher Award, IEEE CPMT Symposium Japan 2014, Nov. 2014. |
関連情報
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