『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
登録内容 (EID=285245)
| EID=285245 | EID:285245,
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LastModified:2014年9月3日(水) 13:04:53,
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Owner:[橋爪 正樹],
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| ○組織 (推奨): | 1. | 徳島大学.大学院ソシオ・アーツ・アンド・サイエンス研究部 (2009年4月1日〜2016年3月31日)
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| ○研究者 (必須): | 1. | 橋爪 正樹 ([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.知能電子回路分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.電気電子システムコース.知能電子回路講座])
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| ○種別 (必須): | 1. | 国内
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| ○出資団体 (必須): | □ | 独立行政法人 科学技術振興機構 (2003年10月1日〜/->組織[科学技術振興事業団])
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| ○予算名 (必須): | □ | (英) (日) A-Step (読)
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| ○予算名2 (推奨): |
| ○番号 (推奨): | □ | J231300042
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| ○課題 (必須): | □ | (英) (日) バウンダリスキャンテストによる半断線検出を可能にする検査容易化回路の開発
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| ○要約 (任意): |
| ○金額 (推奨): | 1. | 1300.0千円
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| ○期間 (必須): | □ | 西暦 2013年 8月 初日 (平成 25年 8月 初日) 〜西暦 2014年 3月 31日 (平成 26年 3月 31日)
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| ○備考 (任意): |
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標準的な表示
| 和文冊子 ● |
橋爪 正樹 : 独立行政法人 科学技術振興機構, A-Step・(予算名2), バウンダリスキャンテストによる半断線検出を可能にする検査容易化回路の開発, 2013年8月〜2014年3月. |
| 欧文冊子 ● |
Masaki Hashizume : Japan Science and Technology Agency, A-Step・(予算名2), バウンダリスキャンテストによる半断線検出を可能にする検査容易化回路の開発, Aug. 2013-March 2014. |
関連情報
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