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登録内容 (EID=275764)

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種別 (必須): 国際会議 [継承]
言語 (必須): 英語 [継承]
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審査 (推奨):
カテゴリ (推奨): 研究 [継承]
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学究種別 (推奨):
組織 (推奨):
著者 (必須): 1. (英) Suda Mitsuaki (日) 須田 充顕 (読) すだ みつあき
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学籍番号 (推奨): **** [ユーザ]
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2.西野 克志 ([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.物性デバイス分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.電気電子システムコース.物性デバイス講座])
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学籍番号 (推奨):
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3. (英) Kurai Satoshi (日) 倉井 聡 (読)
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学籍番号 (推奨):
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4. (英) Yamada Yoichi (日) 山田 陽一 (読)
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学籍番号 (推奨):
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題名 (必須): (英) CL measurement of AlGaN grown on the off-oriented AlN substrate  (日)    [継承]
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発行所 (推奨):
誌名 (必須): (英) 6th International Symposium on Advanced Plasma Science and its Applications for Nitrides and Nanomaterials (日) (読)
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都市 (必須):
年月日 (必須): 西暦 2014年 3月 6日 (平成 26年 3月 6日) [継承]
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和文冊子 ● Mitsuaki Suda, Katsushi Nishino, Satoshi Kurai and Yoichi Yamada : CL measurement of AlGaN grown on the off-oriented AlN substrate, 6th International Symposium on Advanced Plasma Science and its Applications for Nitrides and Nanomaterials, (都市), March 2014.
欧文冊子 ● Mitsuaki Suda, Katsushi Nishino, Satoshi Kurai and Yoichi Yamada : CL measurement of AlGaN grown on the off-oriented AlN substrate, 6th International Symposium on Advanced Plasma Science and its Applications for Nitrides and Nanomaterials, (都市), March 2014.

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