『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
ID: Pass:

登録内容 (EID=260170)

EID=260170EID:260170, Map:0, LastModified:2013年2月27日(水) 22:20:38, Operator:[橋爪 正樹], Avail:TRUE, Censor:0, Owner:[橋爪 正樹], Read:継承, Write:継承, Delete:継承.
カテゴリ (必須): 研究 [継承]
主催団体 (必須): IEEE [継承]
名称 (必須): (英) Workshop on Register Transfer Level and High Level Testing (日) (読) [継承]
区分1 (必須): 国際 [継承]
区分2 (必須): 主催 [継承]
種別 (必須): 学会(国際) [継承]
組織 (推奨): 1.IEEE [継承]
開催者 (必須): 1.橋爪 正樹 ([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.知能電子回路分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.電気電子システムコース.知能電子回路講座])
役割 (必須): 大会委員長 [継承]
[継承]
参加者数 (必須): 56 [継承]
年月日 (必須): 西暦 2012年 11月 22日 (平成 24年 11月 22日) 〜西暦 2012年 11月 23日 (平成 24年 11月 23日) [継承]
開催地 (必須): (英) (日) 新潟市 (読) [継承]
備考 (任意):

標準的な表示

和文冊子 ● Masaki Hashizume (大会委員長) : IEEE, main sponsor, Workshop on Register Transfer Level and High Level Testing, 新潟市, Nov. 2012.
欧文冊子 ● Masaki Hashizume (大会委員長) : IEEE, main sponsor, Workshop on Register Transfer Level and High Level Testing, 新潟市, Nov. 2012.

関連情報

Number of session users = 0, LA = 1.34, Max(EID) = 368555, Max(EOID) = 985963.