『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
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登録内容 (EID=259972)

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○カテゴリ (必須): □研究 [継承]
○団体 (必須): □社団法人 精密工学会 [継承]
○名称 (必須): □ (英) (日) 外観検査アルゴリズムコンテスト2010 学生奨励賞 (読) [継承]
○組織 (推奨): 1.徳島大学.大学院ソシオテクノサイエンス研究部.情報ソリューション部門 (2006年4月1日〜) [継承]
○受賞者 (必須): 1. (英) Yamashita Satoshi (日) 山下 聡 (読) やました さとし
○学籍番号 (推奨): □**** [ユーザ]
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○テーマ (必須): □(英)   (日) 極小値を用いた粒子検出と移動距離・輝度差を用いた粒子追跡   [継承]
○年月日 (必須): □西暦 2010年 12月 9日 (平成 22年 12月 9日) [継承]
○指導教員 (推奨): 1.寺田 賢治 ([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.知能情報系.知能工学分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.知能情報コース.知能工学講座]) [継承]
○備考 (任意):

標準的な表示

和文冊子 ● 山下 聡 : 極小値を用いた粒子検出と移動距離・輝度差を用いた粒子追跡, 外観検査アルゴリズムコンテスト2010 学生奨励賞, 社団法人 精密工学会, 2010年12月.
欧文冊子 ● Satoshi Yamashita : 極小値を用いた粒子検出と移動距離・輝度差を用いた粒子追跡, 外観検査アルゴリズムコンテスト2010 学生奨励賞, The Japan Society for Precision Engineering, Dec. 2010.

関連情報

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