『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
ID: Pass:

登録内容 (EID=256744)

EID=256744EID:256744, Map:0, LastModified:2013年2月8日(金) 15:08:37, Operator:[山田 美緒], Avail:TRUE, Censor:0, Owner:[川上 烈生], Read:継承, Write:継承, Delete:継承.
種別 (必須): 国内講演発表 [継承]
言語 (必須): 日本語 [継承]
招待 (推奨):
審査 (推奨):
カテゴリ (推奨):
共著種別 (推奨):
学究種別 (推奨):
組織 (推奨): 1.徳島大学.工学部.電気電子工学科.物性デバイス講座 [継承]
著者 (必須): 1. (英) (日) 新部 正人 (読)
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
[継承]
2. (英) (日) 小高 拓也 (読)
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
[継承]
3.川上 烈生 ([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.物性デバイス分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.電気電子システムコース.物性デバイス講座])
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
[継承]
4.富永 喜久雄
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
[継承]
5. (英) (日) 中野 由崇 (読)
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
[継承]
題名 (必須): (英)   (日) 軟X線吸収分光法によるTiO2薄膜のエッチングダメージの解析   [継承]
副題 (任意):
要約 (任意):
キーワード (推奨):
発行所 (推奨):
誌名 (必須): (英) (日) 第73回秋季応用物理学会学術講演会 (読)
ISSN (任意):
[継承]
(必須): [継承]
(必須): 1 [継承]
(必須): 08-088 08-088 [継承]
都市 (必須): (英) (日) 日本 (読) [継承]
年月日 (必須): 西暦 2012年 9月 12日 (平成 24年 9月 12日) [継承]
URL (任意):
DOI (任意):
PMID (任意):
NAID (任意):
WOS (任意):
Scopus (任意):
評価値 (任意):
被引用数 (任意):
指導教員 (推奨):
備考 (任意):

標準的な表示

和文冊子 ● 新部 正人, 小高 拓也, 川上 烈生, 富永 喜久雄, 中野 由崇 : 軟X線吸収分光法によるTiO2薄膜のエッチングダメージの解析, 第73回秋季応用物理学会学術講演会, No.1, 08-088, 2012年9月.
欧文冊子 ● 新部 正人, 小高 拓也, Retsuo Kawakami, Kikuo Tominaga and 中野 由崇 : 軟X線吸収分光法によるTiO2薄膜のエッチングダメージの解析, 第73回秋季応用物理学会学術講演会, No.1, 08-088, Sep. 2012.

関連情報

Number of session users = 0, LA = 0.77, Max(EID) = 360769, Max(EOID) = 966336.