『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
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登録内容 (EID=255619)

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○カテゴリ (必須): □研究 [継承]
○団体 (必須): □ (英) (日) 社団法人情報処理学会 システムLSI設計技術研究会 (読) [継承]
○名称 (必須): □ (英) (日) 第153回システムLSI設計技術研究会優秀発表学生賞 (読) [継承]
○組織 (推奨): 1.徳島大学.先端技術科学教育部.システム創生工学専攻.電気電子創生工学コース.知能電子回路講座 (2006年4月1日〜) [継承]
2.徳島大学.大学院ソシオテクノサイエンス研究部.情報ソリューション部門.計算機システム工学 (2006年4月1日〜2016年3月31日) [継承]
○受賞者 (必須): 1. (英) Okada Yasuhiko (日) 岡田 靖彦 (読) おかだ やすひこ
○学籍番号 (推奨): □**** [ユーザ]
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2.四柳 浩之 ([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.知能電子回路分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.電気電子システムコース.知能電子回路講座])
○学籍番号 (推奨):
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3.橋爪 正樹
○学籍番号 (推奨):
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○テーマ (必須): □(英)   (日) テストデータ量削減のための反転信号シフト型 BAST 構成とテストパターン生成法   [継承]
○年月日 (必須): □西暦 2012年 8月 29日 (平成 24年 8月 29日) [継承]
○指導教員 (推奨):
○備考 (任意):

標準的な表示

和文冊子 ● 岡田 靖彦, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 : テストデータ量削減のための反転信号シフト型 BAST 構成とテストパターン生成法, 第153回システムLSI設計技術研究会優秀発表学生賞, 社団法人情報処理学会 システムLSI設計技術研究会, 2012年8月.
欧文冊子 ● Yasuhiko Okada, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume : テストデータ量削減のための反転信号シフト型 BAST 構成とテストパターン生成法, 第153回システムLSI設計技術研究会優秀発表学生賞, 社団法人情報処理学会 システムLSI設計技術研究会, Aug. 2012.

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