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登録内容 (EID=254959)

EID=254959EID:254959, Map:0, LastModified:2017年11月27日(月) 18:34:55, Operator:[大家 隆弘], Avail:TRUE, Censor:0, Owner:[[センター長]/[徳島大学.創成科学研究科.理工学専攻.国際連携教育研究センター]], Read:継承, Write:継承, Delete:継承.
種別 (必須): 学術論文 (審査論文) [継承]
言語 (必須): 英語 [継承]
招待 (推奨): 依頼 [継承]
審査 (推奨): Peer Review [継承]
カテゴリ (推奨): 研究 [継承]
共著種別 (推奨):
学究種別 (推奨): 博士後期課程学生による研究報告 [継承]
組織 (推奨):
著者 (必須): 1.張 東岩
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
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2.王 胖胖
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
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3.村上 理一
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
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4. (英) Xiaoping Song (日) (読)
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
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題名 (必須): (英) Effect of an interface charge density wave on surface plasmon resonance in ZnO/Ag/ZnO thin films  (日)    [継承]
副題 (任意):
要約 (任意):
キーワード (推奨): 1. (英) Interface charge density wave (日) (読) [継承]
2. (英) Surface plasmon resonance (日) (読) [継承]
3. (英) Transparent conductive oxide (日) (読) [継承]
発行所 (推奨): American Institute of Physics [継承]
誌名 (必須): Applied Physics Letters ([American Institute of Physics])
(pISSN: 0003-6951, eISSN: 1077-3118)

ISSN (任意): 0003-6951
ISSN: 0003-6951 (pISSN: 0003-6951, eISSN: 1077-3118)
Title: Applied physics letters
Title(ISO): Appl Phys Lett
Publisher: American Institute of Physics
 (NLM Catalog  (Scopus  (CrossRef (Scopus information is found. [need login])
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(必須): 96 [継承]
(必須): 23 [継承]
(必須): 233114 233114 [継承]
都市 (任意):
年月日 (必須): 西暦 2010年 6月 11日 (平成 22年 6月 11日) [継承]
URL (任意):
DOI (任意): 10.1063/1.3442916    (→Scopusで検索) [継承]
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NAID (任意):
WOS (任意):
Scopus (任意):
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被引用数 (任意):
指導教員 (推奨):
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標準的な表示

和文冊子 ● Dongyan Zhang, Pangpang Wang, Ri-ichi Murakami and Song Xiaoping : Effect of an interface charge density wave on surface plasmon resonance in ZnO/Ag/ZnO thin films, Applied Physics Letters, Vol.96, No.23, 233114, 2010.
欧文冊子 ● Dongyan Zhang, Pangpang Wang, Ri-ichi Murakami and Song Xiaoping : Effect of an interface charge density wave on surface plasmon resonance in ZnO/Ag/ZnO thin films, Applied Physics Letters, Vol.96, No.23, 233114, 2010.

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