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登録内容 (EID=241161)

EID=241161EID:241161, Map:0, LastModified:2011年9月30日(金) 10:02:09, Operator:[池田 建司], Avail:TRUE, Censor:0, Owner:[池田 建司], Read:継承, Write:継承, Delete:継承.
○種別 (必須): □国内講演発表 [継承]
○言語 (必須): □日本語 [継承]
○招待 (推奨):
○審査 (推奨): □Peer Review [継承]
○カテゴリ (推奨):
○共著種別 (推奨):
○学究種別 (推奨):
○組織 (推奨): 1.徳島大学 [継承]
○著者 (必須): 1.池田 建司 ([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.知能情報系.知能工学分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.情報光システムコース.知能工学講座])
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
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○題名 (必須): □(英) Variance Analysis of Bias Compensated State Space Model Identification Method  (日) バイアス補償型部分空間同定法の分散解析   [継承]
○副題 (任意): □(英) Case of 1st order system  (日) 1次系の場合   [継承]
○要約 (任意): □(英) A method of bias compensation in subspace identification method is introduced and an analysis on its variance is presented. The noise is assumed to be a 0 mean colored noise and is assumed to be uncorrelated with the input. The variance of the extended observability matrix is analyzed and a closed form of the variance is derived for the case when the plant is a 1st order system and the noise is white.  (日)    [継承]
○キーワード (推奨): 1. (英) State Space Identification (日) (読) [継承]
2. (英) Variance Analysis (日) (読) [継承]
3. (英) Bias Compensation (日) (読) [継承]
○発行所 (推奨):
○誌名 (必須): □ (英) 40th SICE Symposium on Control Theory (日) 第40回制御理論シンポジウム資料 (読)
○ISSN (任意):
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○巻 (必須): □ [継承]
○号 (必須): □ [継承]
○頁 (必須): □153 158 [継承]
○都市 (必須): □大阪 (Osaka/[日本国]) [継承]
○年月日 (必須): □西暦 2011年 9月 27日 (平成 23年 9月 27日) [継承]
○URL (任意):
○DOI (任意):
○PMID (任意):
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○WOS (任意):
○Scopus (任意):
○評価値 (任意):
○被引用数 (任意):
○指導教員 (推奨):
○備考 (任意):

標準的な表示

和文冊子 ● 池田 建司 : バイアス補償型部分空間同定法の分散解析, --- 1次系の場合 ---, 第40回制御理論シンポジウム資料, 153-158, 2011年9月.
欧文冊子 ● Kenji Ikeda : Variance Analysis of Bias Compensated State Space Model Identification Method, --- Case of 1st order system ---, 40th SICE Symposium on Control Theory, 153-158, Sep. 2011.

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