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登録内容 (EID=24064)

EID=24064EID:24064, Map:0, LastModified:2005年3月1日(火) 20:22:19, Operator:[福井 萬壽夫], Avail:TRUE, Censor:0, Owner:[岡本 敏弘], Read:継承, Write:継承, Delete:継承.
種別 (必須): 学術論文 (審査論文) [継承]
言語 (必須): 英語 [継承]
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学究種別 (推奨):
組織 (推奨): 1.徳島大学.工学部.光応用工学科.光機能材料講座 [継承]
著者 (必須): 1. (英) Shinya Akihiko (日) (読)
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学籍番号 (推奨):
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2. (英) Okuno Yutaro (日) (読)
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学籍番号 (推奨):
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3.福井 萬壽夫
役割 (任意): (英)   (日) 計画,考察,記述   [継承]
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
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4.新谷 義廣
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学籍番号 (推奨):
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題名 (必須): (英) Wavelength dependences of the dielectric constant of thermally evaporated aluminum films  (日)    [継承]
副題 (任意):
要約 (任意): (英)   (日) 熱蒸着したAl連続膜の誘電率ε*のその場観測を波長500∼1000nmでATR法を用いて行った.超高真空下でのε*の波長依存性はAschcroft-Sturm理論·Fuchs-Sondheimer理論·Mayadas-Shatzke理論を用いて説明できた. 結果として,粒界および表面での電子散乱によってε*が影響をうけていることを明確にした.   [継承]
キーワード (推奨):
発行所 (推奨): Elsevier Science [継承]
誌名 (必須): (英) Sueface Science (日) (読)
ISSN (任意):
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(必須): 371 [継承]
(必須): 1 [継承]
(必須): 149 156 [継承]
都市 (任意):
年月日 (必須): 西暦 1997年 1月 20日 (平成 9年 1月 20日) [継承]
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和文冊子 ● Akihiko Shinya, Yutaro Okuno, Masuo Fukui and Yoshihiro Shintani : Wavelength dependences of the dielectric constant of thermally evaporated aluminum films, Sueface Science, Vol.371, No.1, 149-156, 1997.
欧文冊子 ● Akihiko Shinya, Yutaro Okuno, Masuo Fukui and Yoshihiro Shintani : Wavelength dependences of the dielectric constant of thermally evaporated aluminum films, Sueface Science, Vol.371, No.1, 149-156, 1997.

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