『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
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登録内容 (EID=235871)

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○カテゴリ (必須): □研究 [継承]
○団体 (必須): □ (英) International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC) (日) (読) [継承]
○名称 (必須): □ (英) Best Paper Award (日) (読) [継承]
○組織 (推奨): 1.徳島大学.大学院ソシオテクノサイエンス研究部.情報ソリューション部門.計算機システム工学 (2006年4月1日〜2016年3月31日) [継承]
2.徳島大学.先端技術科学教育部.システム創生工学専攻.電気電子創生工学コース.知能電子回路講座 (2006年4月1日〜) [継承]
○受賞者 (必須): 1.橋爪 正樹
○学籍番号 (推奨):
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2. (英) Shohei Kondo (日) 近藤 将平 (読) こんどう しょうへい
○学籍番号 (推奨): □**** [ユーザ]
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3.四柳 浩之 ([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.知能電子回路分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.電気電子システムコース.知能電子回路講座])
○学籍番号 (推奨):
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○テーマ (必須): □(英) Possibility of Logical Error Caused by Open Defects in TSVs  (日)    [継承]
○年月日 (必須): □西暦 2011年 6月 21日 (平成 23年 6月 21日) [継承]
○指導教員 (推奨):
○備考 (任意):

標準的な表示

和文冊子 ● 橋爪 正樹, 近藤 将平, 四柳 浩之 : Possibility of Logical Error Caused by Open Defects in TSVs, Best Paper Award, International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC), 2011年6月.
欧文冊子 ● Masaki Hashizume, Kondo Shohei and Hiroyuki Yotsuyanagi : Possibility of Logical Error Caused by Open Defects in TSVs, Best Paper Award, International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC), June 2011.

関連情報

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