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登録内容 (EID=23257)

EID=23257EID:23257, Map:0, LastModified:2021年8月13日(金) 17:19:33, Operator:[大家 隆弘], Avail:TRUE, Censor:承認済, Owner:[[学科長]/[徳島大学.工学部.光応用工学科]], Read:継承, Write:継承, Delete:継承.
○種別 (必須): □国際会議 [継承]
○言語 (必須):
○招待 (推奨):
○審査 (推奨):
○カテゴリ (推奨):
○共著種別 (推奨):
○学究種別 (推奨):
○組織 (推奨): 1.徳島大学.工学研究科.エコシステム工学専攻.資源循環工学講座 (〜2014年3月31日) [継承]
2.徳島大学.工学部.機械工学科.機械科学講座 [継承]
○著者 (必須): 1.ヨードカシス サウリウス ([北海道大学])
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
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2. (英) Marcinkevicius, A. (日) (読)
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
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3. (英) Watanabe, M. (日) (読)
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
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4. (英) Mizeikis, V. (日) (読)
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
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5.松尾 繁樹
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
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6.三澤 弘明 ([北海道大学])
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
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○題名 (必須): □(英) Sub-picosecond Optical Damaging of Silica: Time Resolved Measurements of Light Induced Damage Threshold  (日)    [継承]
○副題 (任意):
○要約 (任意): □(英)   (日) 超短パルスレーザーを用いたガラス材料への三次元光記録に関する最新の研究を発表した．   [継承]
○キーワード (推奨):
○発行所 (推奨):
○誌名 (必須): □Proceedings of SPIE ([SPIE The International Society for Optical Engineering])
(pISSN: 0277-786X, eISSN: 1996-756X)

○ISSN (任意): □0277-786X
ISSN: 0277-786X (pISSN: 0277-786X, eISSN: 1996-756X)
Title: Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering
Title(ISO): Proc SPIE Int Soc Opt Eng
 (NLM Catalog)   (Scopus)  (Scopus information is found. [need login])
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○巻 (必須): □4347 [継承]
○号 (必須): □ [継承]
○頁 (必須): □212 222 [継承]
○都市 (必須): □ (英) Boulder (日) (読) [継承]
○年月日 (必須): □西暦 2000年 1月 1日 (平成 12年 1月 1日) [継承]
○URL (任意):
○DOI (任意): □10.1117/12.425013    (→Scopusで検索) [継承]
○PMID (任意):
○CRID (任意):
○Scopus (任意): □2-s2.0-0034855966 [継承]
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○被引用数 (任意):
○指導教員 (推奨):
○備考 (任意):

標準的な表示

和文冊子 ● Saulius Juodkazis, A. Marcinkevicius, M. Watanabe, V. Mizeikis, Shigeki Matsuo and Hiroaki Misawa : Sub-picosecond Optical Damaging of Silica: Time Resolved Measurements of Light Induced Damage Threshold, Proceedings of SPIE, 4347, 212-222, Boulder, Jan. 2000.
欧文冊子 ● Saulius Juodkazis, A. Marcinkevicius, M. Watanabe, V. Mizeikis, Shigeki Matsuo and Hiroaki Misawa : Sub-picosecond Optical Damaging of Silica: Time Resolved Measurements of Light Induced Damage Threshold, Proceedings of SPIE, 4347, 212-222, Boulder, Jan. 2000.

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