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登録内容 (EID=223832)

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○種別 (必須): □学術論文 (審査論文) [継承]
○言語 (必須): □英語 [継承]
○招待 (推奨):
○審査 (推奨):
○カテゴリ (推奨):
○共著種別 (推奨):
○学究種別 (推奨):
○組織 (推奨):
○著者 (必須): 1.水谷 康弘
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
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2.岩田 哲郎
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
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○題名 (必須): □(英) Thin Film Thickness Measurement by Surface Plasmon Resonance Using a Modified Otto's Configuration Combined with Ellipsometry  (日)    [継承]
○副題 (任意):
○要約 (任意):
○キーワード (推奨):
○発行所 (推奨):
○誌名 (必須): □International Journal of Automation Technology (IJAT) (Fuji Technology Press)
(pISSN: 1881-7629, eISSN: 1883-8022)

○ISSN (任意): □1881-7629
ISSN: 1881-7629 (pISSN: 1881-7629, eISSN: 1883-8022)
Title: International Journal of Automation Technology
Supplier: 富士技術出版株式会社
Publisher: Fuji Technology Press
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○巻 (必須): □5 [継承]
○号 (必須): □2 [継承]
○頁 (必須): □236 240 [継承]
○都市 (任意):
○年月日 (必須): □西暦 2010年 12月 22日 (平成 22年 12月 22日) [継承]
○URL (任意): □http://www.fujipress.jp/finder/xslt.php?mode=present&inputfile=IJATE000500020027.xml [継承]
○DOI (任意): □10.20965/ijat.2011.p0236    (→Scopusで検索) [継承]
○PMID (任意):
○CRID (任意):
○WOS (任意):
○Scopus (任意): □2-s2.0-80355134251 [継承]
○評価値 (任意):
○被引用数 (任意):
○指導教員 (推奨):
○備考 (任意):

標準的な表示

和文冊子 ● Yasuhiro Mizutani and Tetsuo Iwata : Thin Film Thickness Measurement by Surface Plasmon Resonance Using a Modified Otto's Configuration Combined with Ellipsometry, International Journal of Automation Technology (IJAT), Vol.5, No.2, 236-240, 2010.
欧文冊子 ● Yasuhiro Mizutani and Tetsuo Iwata : Thin Film Thickness Measurement by Surface Plasmon Resonance Using a Modified Otto's Configuration Combined with Ellipsometry, International Journal of Automation Technology (IJAT), Vol.5, No.2, 236-240, 2010.

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