『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
ID: Pass:

登録内容 (EID=222017)

EID=222017EID:222017, Map:0, LastModified:2011年8月9日(火) 10:40:11, Operator:[山田 美緒], Avail:TRUE, Censor:0, Owner:[川上 烈生], Read:継承, Write:継承, Delete:継承.
種別 (必須): 国内講演発表 [継承]
言語 (必須): 日本語 [継承]
招待 (推奨):
審査 (推奨):
カテゴリ (推奨):
共著種別 (推奨):
学究種別 (推奨):
組織 (推奨): 1.徳島大学.工学部.電気電子工学科.物性デバイス講座 [継承]
著者 (必須): 1. (英) (日) 武市 敦 (読)
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
[継承]
2.川上 烈生 ([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.物性デバイス分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.電気電子システムコース.物性デバイス講座])
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
[継承]
3. (英) (日) 新部 正人 (読)
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
[継承]
4.稲岡 武
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
[継承]
5. (英) (日) 向井 考志 (読)
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
[継承]
6. (英) (日) 小西 将士 (読)
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
[継承]
7. (英) (日) 森 祐太 (読)
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
[継承]
8. (英) (日) 兒玉 宗久 (読)
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
[継承]
9.富永 喜久雄
役割 (任意):
貢献度 (任意):
学籍番号 (推奨):
[継承]
題名 (必須): (英)   (日) ヘリウムとアルゴンプラズマによる窒化ガリウムエッチングダメージ   [継承]
副題 (任意):
要約 (任意):
キーワード (推奨):
発行所 (推奨):
誌名 (必須): (英) (日) 平成22年度電気関係学会 四国支部連合大会 講演論文集 (読)
ISSN (任意):
[継承]
(必須): [継承]
(必須): [継承]
(必須): 21 21 [継承]
都市 (必須): (英) (日) 日本 (読) [継承]
年月日 (必須): 西暦 2010年 9月 25日 (平成 22年 9月 25日) [継承]
URL (任意):
DOI (任意):
PMID (任意):
NAID (任意):
WOS (任意):
Scopus (任意):
評価値 (任意):
被引用数 (任意):
指導教員 (推奨):
備考 (任意):

標準的な表示

和文冊子 ● 武市 敦, 川上 烈生, 新部 正人, 稲岡 武, 向井 考志, 小西 将士, 森 祐太, 兒玉 宗久, 富永 喜久雄 : ヘリウムとアルゴンプラズマによる窒化ガリウムエッチングダメージ, 平成22年度電気関係学会 四国支部連合大会 講演論文集, 21, 2010年9月.
欧文冊子 ● 武市 敦, Retsuo Kawakami, 新部 正人, Takeshi Inaoka, 向井 考志, 小西 将士, 森 祐太, 兒玉 宗久 and Kikuo Tominaga : ヘリウムとアルゴンプラズマによる窒化ガリウムエッチングダメージ, 平成22年度電気関係学会 四国支部連合大会 講演論文集, 21, Sep. 2010.

関連情報

Number of session users = 0, LA = 0.72, Max(EID) = 360769, Max(EOID) = 966336.