○種別 (必須): | □ | 先端技術科学教育部 (授業概要)
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○入学年度 (必須): | □ | 西暦 2011年 (平成 23年)
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○名称 (必須): | □ | (英) Precision Machinery (日) 精密機械工学 (読) せいみつきかいこうがく
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○形態 (推奨): |
○コース (必須): | 1. | 2011/[徳島大学.先端技術科学教育部.知的力学システム工学専攻.機械創造システム工学コース]/[博士前期課程]
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○担当教員 (必須): | 1. | 安井 武史 ([徳島大学.ポストLEDフォトニクス研究所]/[徳島大学.理工学部.理工学科.機械科学コース.生産工学講座])
○肩書 (任意): | □ | 教授 ([教職員.教員.本務教員]/[常勤])
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| 2. | 日下 一也 ([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.機械科学系.生産工学分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.機械科学コース.生産工学講座])
○肩書 (任意): | □ | 講師 ([教職員.教員.本務教員]/[常勤])
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○単位 (必須): | □ | 2
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○目的 (必須): | □ | (英) To understand the principles, applicability, and recent trend of two measurement techniques based on X-ray and THz wave for precise machinery. (日) 精密機械工学と関連の深い電磁波計測技術として,X線計測とテラヘルツ(THz)計測を取り上げ,その基本原理について学習する.さらに,学生自身によるプレゼンテーションおよびレポートを通して,これらの技術の応用性と最新の動向を学ぶ.
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○概要 (必須): | □ | (英) In the first half of this lecture, we learn about residual stress measurement method by using X-ray diffraction. Large residual stresses in materials may sometime cause destruction or transformation. Therefore, a measurement of residual stress is important. THz wave, located at a boundary between optical and electric waves, has attracted attention as a new tool for precise machinery. In the later half, students learn THz instrumentation and metrology. (日) 講義前半では,X線回折を用いた残留応力測定法について学ぶ.講義後半では,光波と電波の境界に位置し,新しい機械計測手段として注目されているテラヘルツ波を用いた各種計測手法について学ぶ.工業にかかわる科目である.
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○キーワード (推奨): | 1. | (英) X ray diffraction (日) X線回折 (読)
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| 2. | (英) X-ray stress measurement (日) X線応力測定 (読)
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| 3. | (英) THz spectroscopy (日) THz分光 (読)
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| 4. | (英) THz imaging (日) THzイメージング (読)
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○先行科目 (推奨): | 1. | 計測学 ([2011/[徳島大学.先端技術科学教育部.知的力学システム工学専攻.機械創造システム工学コース]/[博士前期課程]]/->授業概要[2010/計測学])
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| 2. | 材料工学 ([2011/[徳島大学.先端技術科学教育部.知的力学システム工学専攻.機械創造システム工学コース]/[博士前期課程]]/->授業概要[2010/材料工学])
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○関連科目 (推奨): | 1. | 材料物性特論 ([2011/[徳島大学.先端技術科学教育部.知的力学システム工学専攻.機械創造システム工学コース]/[博士前期課程]]/->授業概要[2010/材料物性特論])
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| 2. | 材料工学 ([2011/[徳島大学.先端技術科学教育部.知的力学システム工学専攻.機械創造システム工学コース]/[博士前期課程]]/->授業概要[2010/材料工学])
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○要件 (任意): | □ | (英) To master Mechanical Measurement and Scientific Measurement in bachelor course (日) 学部教育における機械計測および科学計測を理解していること.
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○注意 (任意): | □ | (英) . (日) .
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○目標 (必須): | 1. | (英) Understanding of X-ray stress measurement (日) X線応力測定法を理解する
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| 2. | (英) Understanding of THz instrumentation and metrology (日) THz計測技術を理解する
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○計画 (必須): | 1. | (英) X-ray diffraction (1) Characteristics of X-rays (日) X線回折(1)X線の性質
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| 2. | (英) X-ray diffraction (2) Crystal structures (日) X線回折(2)結晶の幾何学
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| 3. | (英) X-ray diffraction (3) Diffraction by an atom and a small crystal (日) X線回折(3)原子および結晶による回折
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| 4. | (英) X-ray diffraction (4) Powder diffraction (日) X線回折(4)粉末結晶からの回折
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| 5. | (英) X-ray stress measurement in poly-crystal material (日) 多結晶材料のX線応力測定法
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| 6. | (英) X-ray stress measurement in textured material (日) 繊維配向した材料のX線応力測定法
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| 7. | (英) Presentation of measurement example (日) X線応力測定の事例紹介
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| 8. | (英) Report and presentation (日) レポートと発表
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| 9. | (英) Introduction to THz technology (日) THz技術概論
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| 10. | (英) Generation of THz wave (日) THz波の発生技術
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| 11. | (英) Detection of THz wave (日) THz波の検出技術
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| 12. | (英) THz spectroscopy (日) THz分光法
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| 13. | (英) THz imaging (日) THzイメージング
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| 14. | (英) THz applications (日) THz応用計測
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| 15. | (英) Report and presentation (日) レポートと発表
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| 16. | (英) Examination (日) 定期試験
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○評価 (必須): | □ | (英) Report & presentation 60%, examination 40% (日) レポート・発表(60%)と試験(40%)を総合して評価する.
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○再評価 (必須): |
○対象学生 (任意): | □ | 開講コース学生のみ履修可能
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○教科書 (必須): | 1. | (英) Printed synopses are used. (日) 講義時にプリントを配布する
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○参考資料 (推奨): | 1. | (英) None (日)
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○URL (任意): | □ | http://cms.db.tokushima-u.ac.jp/cgi-bin/toURL?EID=197328
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○連絡先 (推奨): | 1. | 安井 武史 ([徳島大学.ポストLEDフォトニクス研究所]/[徳島大学.理工学部.理工学科.機械科学コース.生産工学講座])
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| 2. | 日下 一也 ([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.機械科学系.生産工学分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.機械科学コース.生産工学講座])
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○科目コード (推奨): |
○備考 (任意): |