『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
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登録内容 (EID=212117)

EID=212117EID:212117, Map:0, LastModified:2010年7月9日(金) 14:36:19, Operator:[四柳 浩之], Avail:TRUE, Censor:0, Owner:[四柳 浩之], Read:継承, Write:継承, Delete:継承.
組織 (必須): 1.愛媛大学.工学部
研究者 (必須): 1. (英) Takahashi Hiroshi (日) 高橋 寛 (読) たかはし ひろし [継承]
2. (英) Higami Yoshinobu (日) 樋上 喜信 (読) ひがみ よしのぶ [継承]
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2.徳島大学.大学院ソシオテクノサイエンス研究部.情報ソリューション部門.計算機システム工学 (2006年4月1日〜2016年3月31日)
研究者 (必須): 1.橋爪 正樹 ([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.知能電子回路分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.電気電子システムコース.知能電子回路講座]) [継承]
2.四柳 浩之 ([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.電気電子系.知能電子回路分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.電気電子システムコース.知能電子回路講座]) [継承]
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3. (英) (日) 明治大学 (読)
研究者 (必須): 1. (英) Tsutsumi Toshiyuki (日) 堤 利幸 (読) つつみ としゆき [継承]
2. (英) Yamazaki Koji (日) 山崎 浩二 (読) やまざき こうじ [継承]
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4. (英) (日) 半導体理工学研究センター (読)
研究者 (必須):
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種別 (必須): 他大学·他学部との共同研究 [継承]
テーマ (必須): (英)   (日) 超高信頼性チップ製造のためのシグナルインテグリティ不良のモデル化およびその故障検査法   [継承]
期間 (必須): 西暦 2009年 4月 初日 (平成 21年 4月 初日) 〜西暦 2010年 3月 31日 (平成 22年 3月 31日) [継承]
区分 (任意):
金額 (推奨): 1.9900.0千円 [継承]
備考 (任意):

標準的な表示

和文冊子 ● 愛媛大学 工学部 (高橋 寛, 樋上 喜信), 計算機システム工学 (橋爪 正樹, 四柳 浩之), 明治大学 (堤 利幸, 山崎 浩二), 半導体理工学研究センター ((@.researcher)), 超高信頼性チップ製造のためのシグナルインテグリティ不良のモデル化およびその故障検査法, 2009年4月〜2010年3月.
欧文冊子 ● Faculty of Engineering, Ehime University (Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami), Computer Systems Engineering (Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi), 明治大学 (Toshiyuki Tsutsumi, Koji Yamazaki), 半導体理工学研究センター ((@.researcher)), 超高信頼性チップ製造のためのシグナルインテグリティ不良のモデル化およびその故障検査法, April 2009-March 2010.

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