『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
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登録内容 (EID=195580)

EID=195580EID:195580, Map:0, LastModified:2017年12月13日(水) 15:09:13, Operator:[三好 小文], Avail:TRUE, Censor:0, Owner:[浮田 浩行], Read:継承, Write:継承, Delete:継承.
○種別 (必須): □国際会議 [継承]
○言語 (必須): □英語 [継承]
○招待 (推奨):
○審査 (推奨): □Peer Review [継承]
○カテゴリ (推奨): □研究 [継承]
○共著種別 (推奨): □国際共著 (徳島大学内研究者と国外研究機関所属研究者との共同研究) [継承]
○学究種別 (推奨):
○組織 (推奨): 1.徳島大学.工学部.機械工学科.知能機械学講座 [継承]
○著者 (必須): 1.浮田 浩行 ([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.機械科学系.知能機械学分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.機械科学コース.知能機械学講座])
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
[継承]
2. (英) Tanimoto Yoshio (日) 谷本 義雄 (読) たにもと よしお
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
[継承]
3. (英) Sano Tetsuya (日) 佐野 哲也 (読) さの てつや
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
[継承]
4. (英) Yamamoto Hideki (日) 山本 秀樹 (読) やまもと ひでき
○役割 (任意):
○貢献度 (任意):
○学籍番号 (推奨):
[継承]
○題名 (必須): □(英) Object Shape and Reflectance Property Measurement Using Multiple Illumination Scanner  (日)    [継承]
○副題 (任意):
○要約 (任意):
○キーワード (推奨):
○発行所 (推奨): □IEEE [継承]
○誌名 (必須): □ (英) IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference Proceedings (I2MTC2009) (日) (読)
○ISSN (任意):
[継承]
○巻 (必須): □ [継承]
○号 (必須): □ [継承]
○頁 (必須): □24 29 [継承]
○都市 (必須): □シンガポール (Singapore/[シンガポール共和国]) [継承]
○年月日 (必須): □西暦 2009年 5月 5日 (平成 21年 5月 5日) [継承]
○URL (任意):
○DOI (任意): □10.1109/IMTC.2009.5168411    (→Scopusで検索) [継承]
○PMID (任意):
○NAID (任意):
○WOS (任意):
○Scopus (任意): □2-s2.0-70449903253 [継承]
○評価値 (任意):
○被引用数 (任意):
○指導教員 (推奨):
○備考 (任意):

標準的な表示

和文冊子 ● Hiroyuki Ukida, Yoshio Tanimoto, Tetsuya Sano and Hideki Yamamoto : Object Shape and Reflectance Property Measurement Using Multiple Illumination Scanner, IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference Proceedings (I2MTC2009), 24-29, Singapore, May 2009.
欧文冊子 ● Hiroyuki Ukida, Yoshio Tanimoto, Tetsuya Sano and Hideki Yamamoto : Object Shape and Reflectance Property Measurement Using Multiple Illumination Scanner, IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference Proceedings (I2MTC2009), 24-29, Singapore, May 2009.

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