『徳島大学 教育・研究者情報データベース (EDB)』---[学外] /
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登録内容 (EID=18398)

EID=18398EID:18398, Map:0, LastModified:2001年2月2日(金) 22:32:09, Operator:[橋爪 正樹], Avail:TRUE, Censor:0, Owner:[橋爪 正樹], Read:継承, Write:継承, Delete:継承.
カテゴリ (必須):
団体 (必須): (英) 8th Electronic Circuits World Convention (日) (読) [継承]
名称 (必須): (英) The Most Attractive Visual AWARD WINNER (日) (読) [継承]
組織 (推奨): 1.徳島大学.工学部.電気電子工学科.知能電子回路講座 [継承]
受賞者 (必須): 1.橋爪 正樹
学籍番号 (推奨):
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テーマ (必須): (英) Supply Current Testing for Bridging Faults in Microprocessor Based Sequence Control Circuits  (日)    [継承]
年月日 (必須): 西暦 1999年 9月 10日 (平成 11年 9月 10日) [継承]
指導教員 (推奨):
備考 (任意):

標準的な表示

和文冊子 ● 橋爪 正樹 : Supply Current Testing for Bridging Faults in Microprocessor Based Sequence Control Circuits, The Most Attractive Visual AWARD WINNER, 8th Electronic Circuits World Convention, 1999年9月.
欧文冊子 ● Masaki Hashizume : Supply Current Testing for Bridging Faults in Microprocessor Based Sequence Control Circuits, The Most Attractive Visual AWARD WINNER, 8th Electronic Circuits World Convention, Sep. 1999.

関連情報

Number of session users = 0, LA = 0.21, Max(EID) = 414722, Max(EOID) = 1119481.