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登録内容 (EID=175683)

EID=175683EID:175683, Map:0, LastModified:2009年11月10日(火) 15:34:46, Operator:[山田 美緒], Avail:TRUE, Censor:0, Owner:[池田 建司], Read:継承, Write:継承, Delete:継承.
種別 (必須): 国際会議 [継承]
言語 (必須): 英語 [継承]
招待 (推奨):
審査 (推奨): Peer Review [継承]
カテゴリ (推奨): 研究 [継承]
共著種別 (推奨):
学究種別 (推奨):
組織 (推奨): 1.徳島大学.大学院ソシオテクノサイエンス研究部.情報ソリューション部門 (2006年4月1日〜) [継承]
著者 (必須): 1.池田 建司 ([徳島大学.大学院社会産業理工学研究部.理工学域.知能情報系.知能工学分野]/[徳島大学.理工学部.理工学科.情報光システムコース.知能工学講座])
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学籍番号 (推奨):
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2.最上 義夫
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学籍番号 (推奨):
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3.下村 隆夫
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学籍番号 (推奨):
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題名 (必須): (英) Bias-Compensated Least Squares Method in Closed Loop Environment  (日)    [継承]
副題 (任意): (英) A filter design for colored noise  (日)    [継承]
要約 (任意): (英) In this paper, a bias-compensated least squares (BCLS) method in the closed loop environment is extended for the case where the measurement noise is colored. Namely, a BCLS method in the closed loop environment based on Box-Jenkins model is proposed. Noise model is estimated based on a non-parametric model or high order model because the purpose of the closed loop identification is the improvement of the plant dynamics and the purse of the identification of the noise model is to obtain the unbiased plant parameters with smaller variances.  (日)    [継承]
キーワード (推奨): 1. (英) Bias compensated least squares method (日) バイアス補償型最小二乗法 (読) ばいあすほしょうがたさいしょうじじょうほう [継承]
2. (英) closed loop identification (日) 閉ループ同定 (読) へいるーぷどうてい [継承]
発行所 (推奨):
誌名 (必須): (英) Proceedings of 2008 International Symposium on Advanced Control of Industrial Processes (日) (読)
ISSN (任意):
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(必須): 329 334 [継承]
都市 (必須): (英) Jasper (日) (読) [継承]
年月日 (必須): 西暦 2008年 5月 6日 (平成 20年 5月 6日) [継承]
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和文冊子 ● Kenji Ikeda, Yoshio Mogami and Takao Shimomura : Bias-Compensated Least Squares Method in Closed Loop Environment, --- A filter design for colored noise ---, Proceedings of 2008 International Symposium on Advanced Control of Industrial Processes, 329-334, Jasper, May 2008.
欧文冊子 ● Kenji Ikeda, Yoshio Mogami and Takao Shimomura : Bias-Compensated Least Squares Method in Closed Loop Environment, --- A filter design for colored noise ---, Proceedings of 2008 International Symposium on Advanced Control of Industrial Processes, 329-334, Jasper, May 2008.

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